[发明专利]Mura检测方法、装置、终端设备以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011471565.X 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112508922B 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 张耀;吴国良;张滨;徐大鹏 申请(专利权)人: 深圳精智达技术股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T3/60;G06T5/50;G06T5/00;G09G3/3208
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 晏波
地址: 518000 广东省深圳市龙华区龙华街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: mura 检测 方法 装置 终端设备 以及 存储 介质
【说明书】:

发明公开一种Mura检测方法,所述方法包括以下步骤:获取待检测屏幕的目标图像;对所述目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据;利用时间序列分解算法对所述一维累加数据进行处理,获得所述一维累加数据的趋势分量和周期分量;基于所述趋势分量和所述周期分量,获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量;根据所述具有异常值的余项分量,获得所述待检测屏幕的Mura检测结果。本发明还公开了一种Mura检测装置、终端设备以及存储介质。相较于当前的Mura观测结果,异常值的准确率较高,所以采用本发明的Mura检测方法,Mura检测结果的准确率较高。

技术领域

本发明涉及显示屏处理领域,特别涉及一种Mura检测方法、装置、终端设备以及存储介质。

背景技术

随着信息显示技术的不断发展,OLED(英文:OrganicLight-Emitting Diode,中文:有机电激光显示),凭借其自发光、可弯曲、视角广泛、响应速度快、制程简单等优势,正逐步取代传统的LCD,快速深入的应用到现代社会的各个领域。Mura(显示屏亮度不均匀)作为一种常见缺陷,在OLED显示中相较LCD更为严重,而且Mura缺陷种类非常繁多,有大面积偏色以及点状、斑状、带状、环状、云状等等形态,其中,每种形态又对应不同的色彩和灰阶画面。主要是由于OLED制程工艺复杂、蒸镀工艺难以实现非常良好的平整性,导致每个子像素的发光亮度在相同外部条件下差异较大,不得不对每个子像素进行补偿,以达到面板显示标准。在补偿Mura之前需要对Mura进行检测和分类、分级,从而实现对工艺的反馈和产品良率的管控。

相关技术中,通过拍摄待检测显示屏显示状态的目标图像,并对目标图像进行Mura观测,以通过Mura观测结果,获得待检测显示屏的Mura检测结果。

但是,利用现有的Mura检测方法对待检测显示屏进行检测时,目标图像的Mura观测结果准确率较低,导致Mura检测准确率较低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种Mura检测方法、装置、终端设备以及存储介质,旨在解决现有技术中利用现有的Mura检测方法对待检测显示屏进行检测时,目标图像的Mura观测结果准确率较低,导致Mura检测准确率较低的技术问题。

为实现上述目的,本发明提出的一种Mura检测方法,所述方法包括以下步骤:

获取待检测屏幕的目标图像;

对所述目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据;

利用时间序列分解算法对所述一维累加数据进行处理,获得所述一维累加数据的趋势分量和周期分量;

基于所述趋势分量和所述周期分量,获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量;

根据所述具有异常值的余项分量,获得所述待检测屏幕的Mura检测结果。

可选的,所述对所述目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据的步骤之前,所述方法还包括:

对所述目标图像进行旋转校正,获得校正后的目标图形;

所述对所述目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据的步骤包括:

对所述校正后的目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据。

可选的,所述对所述校正后的目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据的步骤之前,所述方法还包括:

获取所述校正后的目标图像的感兴趣区域;

根据所述感兴趣区域获得显示区图像;

所述对所述校正后的目标图像中的数据按照行或列进行数据累加,获得一维累加数据的步骤包括:

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