[发明专利]Mura检测方法、装置、终端设备以及存储介质

权利要求书

1.一种Mura检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取待检测屏幕处于发光状态的目标图像；

对所述目标图像进行旋转校正，获得校正后的目标图形；

获取所述校正后的目标图像的感兴趣区域；

根据所述感兴趣区域获得显示区图像；

对所述显示区图像进行均值滤波处理，获得滤波后的显示区图像；

利用直方图均衡法对所述滤波后的显示区图像进行对比度增强处理，获得预处理图像；

对所述预处理图像进行3～5次3×3的均值滤波处理，获得滤波后的预处理图像；

根据预设尺寸和所述滤波后的预处理图像，获得检测图像；

对所述检测图像中的数据按照行或列进行数据累加，获得一维累加数据；

利用时间序列分解算法对所述一维累加数据进行处理，获得所述一维累加数据的趋势分量和周期分量；

基于所述趋势分量和所述周期分量，获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量；

根据所述具有异常值的余项分量，获得所述待检测屏幕的Mura检测结果。

2.如权利要求1所述的Mura检测方法，其特征在于，所述基于所述趋势分量和所述周期分量，获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量的步骤包括：

利用公式一、所述趋势分量和所述周期分量，获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量；

所述公式一为：

Y_t＝t_t+s_t+r_t

其中，Y_t为所述一维累加数据，T_t为所述趋势分量，S_t为所述周期分量，R_t为所述余项分量。

3.如权利要求2所述的Mura检测方法，其特征在于，所述根据所述具有异常值的余项分量，获得所述待检测屏幕的Mura检测结果的步骤包括：

利用预设阈值对所述具有异常值的余项分量进行异常值定位，获得所述异常值的位置信息；

根据所述位置信息，获得所述待检测屏幕的Mura检测结果。

4.一种Mura检测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取待检测屏幕处于发光状态的目标图像；对所述目标图像进行旋转校正，获得校正后的目标图形；获取所述校正后的目标图像的感兴趣区域；根据所述感兴趣区域获得显示区图像；对所述显示区图像进行均值滤波处理，获得滤波后的显示区图像；利用直方图均衡法对所述滤波后的显示区图像进行对比度增强处理，获得预处理图像；对所述预处理图像进行3～5次3×3的均值滤波处理，获得滤波后的预处理图像；根据预设尺寸和所述滤波后的预处理图像，获得检测图像；

累加模块，用于对所述检测图像中的数据按照行或列进行数据累加，获得一维累加数据；

第一获得模块，用于利用时间序列分解算法对所述一维累加数据进行处理，获得所述一维累加数据的趋势分量和周期分量；

第二获得模块，用于基于所述趋势分量和所述周期分量，获得所述一维累加数据的具有异常值的余项分量；

第三获得模块，用于根据所述异常值，获得所述待检测屏幕的Mura检测结果。

5.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的Mura检测程序，所述Mura检测程序配置为实现如权利要求1至3中任一项所述的Mura检测方法的步骤。

6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有Mura检测程序，所述Mura检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至3中任一项所述的Mura检测方法的步骤。