[发明专利]一种晶圆承载装置及其控制方法、装置在审
| 申请号: | 202011470890.4 | 申请日: | 2020-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN112670231A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
| 发明(设计)人: | 王海明;郭东;衣忠波;刘宇光;梁津 | 申请(专利权)人: | 北京中电科电子装备有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;B24B7/22;B24B41/06;B24B55/00 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;曹娜 |
| 地址: | 100176 北京市经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 承载 装置 及其 控制 方法 | ||
本发明提供了一种晶圆承载装置及其控制方法、装置,涉及制造技术领域。所述晶圆承载装置包括:承片台;转台,承片台固定在转台上;通过转台的转动,转台带动承片台旋转;支撑台,与转台连接;转台能够相对于所述支撑台转动;辅基座,与支撑台连接;主基座,主基座与辅基座间隔设置;其中,在主基座与辅基座相对的第一位置,主基座与辅基座固定连接;在主基座与辅基座相对的第二位置,设置有调整结构;与调整结构相连接设置有驱动结构,通过驱动结构带动调整结构转动,主基座与辅基座在第二位置之间的间隔距离变化。本发明的方案稳定可靠地实现晶圆在磨削减薄过程中的角度调整,而且准确度高、操作方便。
技术领域
本发明属于制造技术领域,尤其是涉及一种晶圆承载装置及其控制方法、装置。
背景技术
集成电路芯片的封装趋势正在向更小型化、更高密度、更高性能以及更多功能的方向发展,芯片的减薄成为半导体封装中的重要工序。晶圆减薄能够减小芯片的封装体积,提高机械性能和电气性能,改善芯片的散热效果。如图1至图3所示,晶圆8在磨削减薄过程中,砂轮10和晶圆8之间呈一定的角度,两者之间的角度是保证晶圆磨削质量的关键因素。设备运行一段时间之后,角度会发生变化。目前,晶圆8在磨削减薄过程中的常用角度调整方法是在承片台上,安装紧螺钉11和压螺钉12,通过安装千分表,旋转紧螺钉11和压螺钉12,使晶圆8和主轴9之间达到所需要的倾斜角度,当倾斜角度发生变化时,需要重新测量,调整倾斜角度,此种方式需要频繁打千分表,导致操作十分不便。而且,采用压螺钉12进行调整,压螺钉12会直接压到基座13上,从而导致基座13发生损坏甚至变形,影响晶圆倾斜角度的准确度。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种晶圆承载装置及其控制方法、装置,从而解决现有技术中晶圆在磨削减薄过程中,其倾斜角度调整不便的问题。
为了实现上述目的,本发明实施例提供了一种晶圆承载装置,包括:
承片台;
转台,所述承片台固定在所述转台上;通过所述转台的转动,所述转台带动所述承片台旋转;
支撑台,与所述转台连接;所述转台能够相对于所述支撑台转动;
辅基座,与所述支撑台连接;
主基座,所述主基座与所述辅基座间隔设置;
其中,在所述主基座与所述辅基座相对的第一位置,所述主基座与所述辅基座固定连接;
在所述主基座与所述辅基座相对的第二位置,设置有调整结构;
其中,与所述调整结构相连接设置有驱动结构,通过所述驱动结构带动所述调整结构转动,所述主基座与所述辅基座在所述第二位置之间的间隔距离变化。
可选地,所述晶圆承载装置还包括:
在所述主基座与所述辅基座相对的第一位置,所述主基座与所述辅基座通过锁紧结构固定连接。
可选地,在所述主基座与所述辅基座相对的至少两个第二位置,分别设置有所述调整结构。
可选地,所述第一位置和至少两个所述第二位置围绕所述转台均匀分布。
可选地,所述调整结构包括:
设置于主基座上的第一调节结构,以及设置于所述辅基座上的第二调节结构,所述第一调节结构与所述第二调节结构相连接;
所述第二调节结构与所述辅基座靠近所述主基座的表面相抵接;
所述驱动结构与所述第一调节结构连接,带动所述第一调节结构转动。
可选地,所述第一调节结构包括:
第一调节轴,所述第一调节轴穿设于所述主基座,且与所述驱动结构连接;所述驱动结构能够驱动所述第一调节轴旋转;
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