[发明专利]一种半导体晶元研磨盘在审

专利信息
申请号: 202011458748.8 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112658979A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 唐亚松;叶沐勇;叶晓玲 申请(专利权)人: 苏州普斯恩精密机械有限公司
主分类号: B24B37/11 分类号: B24B37/11
代理公司: 北京久维律师事务所 11582 代理人: 邢江峰
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 研磨
【权利要求书】:

1.一种半导体晶元研磨盘,包括下底座(1),其特征在于:所述下底座(1)的上端外表面设置有上底座(2),所述上底座(2)的上端外表面设置有固定盘(3),所述固定盘(3)的上端外表面设置有研磨刀(4),所述固定盘(3)的上端外表面设置有排屑槽(5),所述固定盘(3)的上端外表面设置有通孔(6),所述固定盘(3)的侧端外表面设置有第一安装孔(7),所述上底座(2)的侧端外表面设置有第二安装孔(8),所述第一安装孔(7)的侧端设置有锁紧销(9),所述下底座(1)的下端外表面设置有固定环(10)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述下底座(1)的形状呈圆形,所述下底座(1)与上底座(2)之间为固定连接,所述上底座(2)的形状呈圆形,所述固定盘(3)的形状呈圆形,所述研磨刀(4)与固定盘(3)之间为固定连接,所述研磨刀(4)的数量为若干,且呈圆周阵列排布,所述排屑槽(5)嵌于固定盘(3)的上端外表面,所述排屑槽(5)的数量为若干,且呈圆周阵列排布,所述排屑槽(5)的形状呈长方形。

3.根据权利要求1所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述通孔(6)贯穿于固定盘(3)的上端外表面,所述第一安装孔(7)贯穿于固定盘(3)的侧端外表面,所述第一安装孔(7)的数量为四个,且呈圆周阵列排布,所述第二安装孔(8)嵌于上底座(2)的侧端外表面,所述第二安装孔(8)的数量为四个,且呈圆周阵列排布,所述上底座(2)与固定盘(3)之间通过第一安装孔(7)与第二安装孔(8)与锁紧销(9)为活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述下底座(1)与固定环(10)之间为固定连接,所述固定环(10)的形状呈圆柱形,固定环(10)的内部设置有安装腔,所述安装腔嵌于固定环(10)的下端外表面,所述固定环(10)的侧端外表面设置有第一螺纹孔(11),所述第一螺纹孔(11)贯穿于固定环(10)的侧端外表面,所述第一螺纹孔(11)的数量为四个,且呈圆周阵列排布。

5.根据权利要求1所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述固定盘(3)的侧端外表面设置有装配环(12),装配环(12)的内部设置有中空腔,所述中空腔嵌于装配环(12)的上端外表面。

6.根据权利要求5所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述装配环(12)的侧端外表面设置有第二螺纹孔(13),所述第二螺纹孔(13)贯穿于装配环(12)的侧端外表面,所述第二螺纹孔(13)的数量为四个,且呈圆周阵列排布。

7.根据权利要求5所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述装配环(12)的下端外表面设置有转轴(14),所述转轴(14)与装配环(12)之间为固定连接,所述转轴(14)的形状呈圆柱形。

8.根据权利要求6所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述第一螺纹孔(11)的侧端外表面设置有六角螺栓(15),所述固定环(10)与装配环(12)之间通过第一螺纹孔(11)与第二螺纹孔(13)与六角螺栓(15)为螺纹连接,所述六角螺栓(15)的数量为四个,且呈圆周阵列排布,六角螺栓(15)的侧端设置有垫片,所述垫片与六角螺栓(15)之间为活动连接。

9.根据权利要求1所述的一种半导体晶元研磨盘,其特征在于:所述研磨刀(4)的侧端外表面设置有加强块(16),所述加强块(16)与固定盘(3)之间为固定连接,所述加强块(16)的数量若干,且呈圆周阵列排布,所述加强块(16)的形状呈长条状。

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