[发明专利]下料校准方法、存储介质和配料设备

说明书

本申请公开了一种下料校准方法、存储介质和配料设备。其中，下料校准方法包括：获取第一种物料与其他至少一种物料的参数关系；根据第一种物料的第一下料校准规则和参数关系，确定其他至少一种物料的第二下料校准规则；执行第一下料校准规则对应的操作，以对至少两种物料进行下料校准。本申请提供的下料校准方法，将其他任一种物料的第二下料校准规则与第一种物料的第一下料校准规则进行关联，进而通过执行第一下料校准规则对应的操作，即可实现对其他任一种物料进行下料校准，操作简单，易于实现，提高了校准效率，提升了用户体验。

技术领域

本申请涉及配料技术领域，尤其是涉及到一种下料校准方法、一种存储介质和一种配料设备。

背景技术

配料设备通常设置有多种液体调料以满足对不同食品进行加工的需求，目前对配料设备进行下料校准操作时，通常情况下，需要手动逐一对每种物料进行下料校准操作，进而使得整个设备的下料校准操作繁琐，校准效率低，特别是用户使用一段时间之后，下料精度有所下降，可能就需要校准以合理控制下料偏差，使得烹饪口味得到保证，每一次校准都需要逐一对每种物料进行下料校准就显得特别繁琐，用户体验较差。

申请内容

有鉴于此，本申请提供了一种下料校准方法、存储介质和下料设备，有助于提高整个下料设备的校准效率，操作简单。

根据本申请的第一方面，提供了一种下料校准方法，所述方法包括：

获取第一种物料与其他至少一种物料的参数关系；

根据所述第一种物料的第一下料校准规则和所述参数关系，确定所述其他至少一种物料的第二下料校准规则；

执行所述第一下料校准规则对应的操作，以对至少两种所述物料进行下料校准。

可选地，所述方法还包括：

根据以下步骤确定所述第一种物料的第一下料校准规则：

接收所述第一种物料的下料输入信息，其中，所述下料输入信息包括至少两个下料输入参数，下料输入参数包括下料电机的脉冲数值；

确定任一所述下料输入参数对应的所述第一种物料的第一出料量；

根据所述下料输入参数和所述第一出料量确定所述第一下料校准规则。

可选地，所述方法还包括：

所述根据所述下料输入参数和所述第一出料量确定所述第一下料校准规则的步骤具体包括：

根据所述脉冲数值和所述第一出料量确定所述第一种物料的第一投料公式：

Y_A＝k_AX_A+b_A

式中，Y_A＝Y_A1、Y_A2、Y_Ai……，Y_Ai为供所述第一种物料出料的第i个所述脉冲数值；

X_A＝X_A1、X_A2、X_Ai……，X_Ai为第i个所述脉冲数值对应的所述第一种物料的所述第一出料量；

k_A和b_A是常数。

可选地，所述参数关系包括出料量的重量比；

所述根据所述第一种物料的第一下料校准规则和所述参数关系，确定所述其他至少一种物料的第二下料校准规则的步骤，具体包括：

根据所述第一投料公式和所述出料量的重量比，确定其他至少一种物料的第二投料公式：