[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机

说明书

本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。所述下料机包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；数据采集器和器件抓取机构均与控制器连接，器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，器件放置区包括良品区和不良品区；数据采集器用于采集器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，放置位置为良品区或不良品区；控制器用于根据测试数据控制器件抓取机构将器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置。本发明提高了分拣的精准度和高效率。

技术领域

本发明涉及下料机领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。

背景技术

现在器件的复杂度越来越高，为了保证出厂的器件没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或生产窗口来发现器件的早期故障，器件老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法，老化过程基本上模拟了器件整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了器件工作的最坏情况，根据不同的老化时间，所得资料可能涉及到器件的早期寿命或磨损程度。而器件作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法，电磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理，以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境的设备。主要服务于各种从事无线电子产品、无线通讯产品生产及研发的企业，以及各类电子、电器消费类产品生产企业等。

现在的器件测试都是人工操作，需要先将测试的器件装入测试盘内，然后才能放到测试柜里进行测试，测试完成后需要对比测试数据，将测试通过的和测试不良的器件分拣出测试盘并标记。测试完成后的分拣工作不但耗费时间和人力，还特别考验操作人员的细心程度，使得工作效率低并且分拣精度低。

发明内容

本发明的目的是提供一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，以提高分拣的精准度和效率。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；

所述数据采集器和所述器件抓取机构均与所述控制器连接，所述器件测试盘下料机用于将放置有待分拣的器件测试盘传送至器件取料区；所述器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，所述器件放置区包括良品区和不良品区；所述数据采集器用于采集所述器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，所述测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，所述放置位置为良品区中的位置或不良品区中的位置；所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置。

可选的，所述器件自动出料机包括：多个运送装置，所述运送装置包括第一传送轨道、进盘仓和出盘仓；

所述进盘仓设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述出盘仓设置在所述第一传送轨道的出盘区，所述进盘仓用于放置空料盘，所述第一轨道用于将所述空料盘传输至所述放置位置并将所述放置位置内放置有所述待分拣器件的料盘传输至所述出盘仓，所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的运送装置的放置位置。