[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机

权利要求书

1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，包括：3D相机、控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；

所述数据采集器和所述器件抓取机构均与所述控制器连接，所述器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；所述器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，所述器件放置区包括良品区和不良品区；所述数据采集器用于采集所述器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，所述测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，所述放置位置为良品区中的位置或不良品区中的位置；所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置；

所述器件自动出料机包括：多个运送装置，所述运送装置包括第一传送轨道、进盘仓和出盘仓；

所述进盘仓设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述出盘仓设置在所述第一传送轨道的出盘区，所述进盘仓用于放置空料盘，所述第一轨道用于将所述空料盘传输至所述放置位置并将所述放置位置内放置有所述待分拣器件的料盘传输至所述出盘仓，所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的运送装置的放置位置；

所述3D相机与所述控制器连接，所述3D相机用于对所述器件抓取机构抓取的待分拣器件进行拍摄，并将拍摄图像传送至所述控制器，所述控制器用于根据所述拍摄图像判断待分拣器件中测试结果为不良的器件的缺陷原因，并根据所述缺陷原因控制所述待分拣器件中测试结果为不良的器件抓取到与所述缺陷原因对应的运送装置上。

2.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述器件测试盘下料机包括：第二传送轨道和器件测试盘放置仓，所述器件测试盘放置仓设置在所述第二传送轨道的下盘区，所述第二传送轨道用于将所述放置有待分拣的器件测试盘传送至所述器件取料区并将所述器件抓取机构抓取后的器件测试盘传送至所述器件测试盘放置仓，所述器件测试盘放置仓用于存储所述器件抓取机构抓取后的器件测试盘。

3.根据权利要求2所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述器件测试盘放置仓包括：第一放置仓和第二放置仓；当所述器件测试盘内的待抓取器件全部被抓取后，所述第二传送轨道将所述器件测试盘传送至所述第一放置仓；当所述器件抓取机构抓取后的器件测试盘中存在待抓取器件或所述器件测试盘被损坏时，所述第二传送轨道将所述器件测试盘传送至所述第二放置仓。

4.根据权利要求3所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，还包括：传送装置，所述传送装置设置在所述第二传送轨道的下盘区，所述传送装置用于将所述第一放置仓内的器件测试盘运送到设定位置。

5.根据权利要求4所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述传送装置为AGV小车。

6.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述数据采集器为扫码器，所述扫码器用于对所述器件测试盘设置的二维码进行扫描，以获取对应器件的测试数据。

7.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，还包括：电脑显示屏，所述电脑显示屏与所述控制器连接。

8.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述运送装置为4个。