[发明专利]遥感图像的目标检测方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种遥感图像的目标检测方法，用于检测遥感图像中的目标，其特征在于，包括以下步骤：

获取待检测遥感图像，所述待检测遥感图像包括待检测目标；

在所述待检测遥感图像中，在水平方向上每隔第一预设数量个像素点进行采样，在竖直方向上每隔第二预设数量个像素点进行采样，得到多个尺度相同的切片图像；

将所述多个尺度相同的切片图像在通道维度上进行拼接，得到输入遥感图像；

对所述输入遥感图像进行特征提取，得到目标特征图，所述目标特征图隐含预测目标中心信息以及预测目标尺度信息；

基于所述目标特征图，预测所述待检测目标的类型和位置并回归到所述待检测遥感图像中，得到所述待检测遥感图像的目标检测结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述输入遥感图像进行特征提取，得到目标特征图，所述目标特征图隐含预测目标中心信息以及预测目标尺度信息，包括：

对所述待检测遥感图像进行第一卷积操作，得到第一特征图；

对所述第一特征图进行第二卷积操作，得到第二特征图，所述第二特征图隐含预测目标中心信息以及预测目标尺度信息；

对所述第二特征图按第一预设次数分别进行下采样，并根据下采样的结果得到第三特征图；

对所述第三特征图进行第三卷积操作，得到不同尺度的第四特征图；

对最小尺度的第四特征图进行上采样，并融合对应尺度的第四特征图，得到不同尺度的第五特征图作为目标特征图。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二卷积操作包括中心卷积操作以及尺度卷积操作，所述对所述第一特征图进行第二卷积操作，得到第二特征图，包括：

对所述第一特征图进行中心卷积操作，得到隐含预测目标中心信息的第一子特征图；

对所述第二特征图进行尺度卷积操作，得到隐含预测目标尺度信息的第二子特征图；

将所述第一子特征图与所述第二子特征图进行融合，得到第二特征图。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第二特征图按第一预设次数分别进行下采样，并根据下采样的结果得到第三特征图，包括：

对所述第二特征图按第一预设次数分别进行下采样，得到第一数量的不同尺度的下采样图，所述第一数量与所述第一预设次数相关；

对所述不同尺寸的下采样图进行融合，得到第三特征图。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第三特征图进行第三卷积操作，得到不同尺度的第四特征图，包括：

在当前尺度的卷积操作完成后，将所述当前尺度的输出特征按预设的倍数进行下采样，得到第四特征图。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对最小尺度的第四特征进行上采样，并融合对应尺度的第四特征图，得到不同尺度的第五特征图作为目标特征图，包括：

对最小尺度的第四特征按所述预设的倍数进行上采样，得到不同尺度的上采样图；

通过第四卷积操作将相同尺度的第四特征图与上采样图进行融合，得到不同尺度的第五特征图作为目标特征图。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标特征图，预测所述待检测目标的类型和位置并回归到所述待检测遥感图像中，得到所述待检测遥感图像的目标检测结果，包括：

通过对所述不同尺度的目标特征图进行预测分类，输出对应不同尺度的预测结果；

基于所述不同尺度的预测结果进行筛选，得到待检测目标的类型和位置；

将所述待检测目标的类型和位置回归到所述待检测遥感图像，得到所述待检测遥感图像的目标检测结果。