[发明专利]一种芯片测试的方法和装置

说明书

本申请适用于电子技术领域，提供了芯片测试的方法和装置，其中，该方法包括：获取多个测试信息，所述多个测试信息与多个芯片一一对应；根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，其中，所述多个测试信息的显示位置的关系为第二位置关系，所述第二位置关系与所述第一位置关系相同。通过上述方案解决了测试人员快速定位待处理芯片的问题，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种芯片测试的方法和装置。

背景技术

机械手在芯片测试中有广泛的应用。在测试过程中，机械手抓取待测盘中的芯片，并将其放在测试机的测试盘上进行测试，测试结束后根据测试结果将芯片进行分类摆盘，以实现芯片筛选目的。芯片通常需要进行多次测试，一些测试结果需要测试人员参与分析，以确定这些测试结果是否合格。若测试结果不合格，可能需要测试人员对测试盘上的不合格芯片做针对性处理，而机械手对芯片的移动可能会导致芯片的初始排布发生变换，导致测试人员无法快速定位待处理的芯片，因此，如何使测试人员快速定位待处理的芯片以提高测试效率是当前需要解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种芯片测试方法和装置，能够使测试人员快速定位待处理的芯片，提高测试效率。

第一方面，提供了一种芯片测试方法，包括：

获取多个测试信息，所述多个测试信息与多个芯片一一对应；

根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，其中，所述多个测试信息的显示位置的关系为第二位置关系，所述第二位置关系与所述第一位置关系相同。

上述方法可以由终端设备或者终端设备中的芯片执行。测试信息例如是芯片的标识(identifier，ID)和测试结果，第一位置关系可以是多个芯片在测试盘中的位置关系。例如，九个芯片以3×3的排列方式摆放在测试盘中，第一行的三个芯片的ID从左至右分别为1、2、3，第二行的三个芯片的ID从左至右分别为4、5、6，第三行的三个芯片的ID从左至右分别为7、8、9，该排列方式即第一位置关系的一个示例。相应地，第二位置关系也是3×3的排列方式，即，九个芯片的测试信息以3×3的排列方式显示出来，第一行的三个测试信息对应的芯片的ID从左至右分别为1、2、3，第二行的三个芯片对应的芯片的ID从左至右分别为4、5、6，第三行的三个芯片对应的芯片的ID从左至右分别为7、8、9。若第一行测试信息的左侧第一个测试信息存在异常，测试人员可以确定测试盘中第一行左侧第一个芯片存在异常，对其进行针对性的处理。相比于无序的测试结果显示方法，上述方法使测试人员能够快速定位待处理的芯片，提高测试效率。

可选地，所述多个测试信息包括所述多个芯片的ID，所述多个芯片的ID为用户输入的ID，所述方法还包括：

对所述多个ID进行查重校验和错误输入校验；

所述根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，包括：

当所述查重校验和所述错误输入校验通过时，根据所述多个芯片的位置关系显示所述多个ID，其中，通过所述查重校验的所述多个ID的值互不相同，通过所述错误输入校验的所述多个ID的格式与预设格式相同。

当用户输入芯片的ID时，存在输入错误的可能性。例如，用户可能输入两个相同的值作为两个芯片的ID，或者，用户输入的芯片ID的格式与预设格式不符，这些情况均会导致用户无法快速确定待处理的芯片。终端设备可以对用户输入的内容进行查重校验，若用户输入的两个ID的值相同，终端设备可以提醒用户检查输入内容；若用户输入的ID的格式与预设格式不同，终端设备也可以提醒用户检查输入内容。待所有ID的查重校验和输入校验通过后，再显示ID，确保用户输入的多个测试信息准确无误，使测试人员能够快速定位待处理的芯片，提高测试效率。

可选地，所述多个测试信息包括所述多个芯片的ID，所述多个芯片的ID为扫描设备输入的ID。