[发明专利]一种芯片测试的方法和装置

权利要求书

1.一种芯片测试的方法，其特征在于，包括：

获取多个测试信息，所述多个测试信息与多个芯片一一对应；

根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，其中，所述多个测试信息的显示位置的关系为第二位置关系，所述第二位置关系与所述第一位置关系相同。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个测试信息包括所述多个芯片的标识ID，所述多个芯片的ID为用户输入的ID，

所述方法还包括：

对所述多个ID进行查重校验和错误输入校验；

所述根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，包括：

当所述查重校验和所述错误输入校验通过时，根据所述多个芯片的位置关系显示所述多个ID，其中，通过所述查重校验的所述多个ID的值互不相同，通过所述错误输入校验的所述多个ID的格式与预设格式相同。

3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个测试信息包括所述多个芯片的ID，所述多个芯片的ID为扫描设备输入的ID。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个测试信息包括指示测试通过的第一信息集合和指示测试未通过的第二信息集合，所述多个芯片包括测试通过的第一芯片集合和测试未通过的第二芯片集合，所述第一信息集合中测试信息的显示位置的位置关系与所述第一芯片集合中芯片的位置关系相同，所述第二信息集合中测试信息的显示位置的位置关系与所述第二芯片集合中芯片的位置关系相同。

5.一种芯片测试的装置，其特征在于，包括输入模块和显示模块，

所述输入模块用于：获取多个测试信息，所述多个测试信息与多个芯片一一对应；

所述显示模块用于：根据所述多个芯片的第一位置关系显示所述多个测试信息，其中，所述多个测试信息的显示位置的关系为第二位置关系，所述第二位置关系与所述第一位置关系相同。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述多个测试信息包括所述多个芯片的标识ID，所述多个芯片的ID为用户输入的ID，所述装置还包括校验模块，

所述校验模块用于：对所述多个ID进行查重校验和错误输入校验；

所述显示模块具体用于：当所述查重校验和所述错误输入校验通过时，根据所述多个芯片的位置关系显示所述多个ID，其中，通过所述查重校验的所述多个ID的值互不相同，通过所述错误输入校验的所述多个ID的格式与预设格式相同。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述多个测试信息包括所述多个芯片的ID，所述多个芯片的ID为扫描设备输入的ID。

8.根据权利要求5-7中任一项的装置，其特征在于，所述多个测试信息包括指示测试通过的第一信息集合和指示测试未通过的第二信息集合，所述多个芯片包括测试通过的第一芯片集合和测试未通过的第二芯片集合，所述第一信息集合中测试信息的显示位置的位置关系与所述第一芯片集合中芯片的位置关系相同，所述第二信息集合中测试信息的显示位置的位置关系与所述第二芯片集合中芯片的位置关系相同。

9.一种芯片测试的设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于从所述存储器中调用并运行所述计算机程序，使得所述设备执行权利要求1至4中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储了计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行权利要求1至4中任一项所述的方法。