[发明专利]一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置

说明书

本发明公开了一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，属于太赫兹成像技术领域，包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。本发明通过电机、支架、限位开关等组件的巧妙设置，能够方便地对太赫兹成像仪探测器阵列进行校准，操作更加方便；并且采用太赫兹成像仪内部校准的方式，摆脱外部辅助设备，同时大大降低对均匀太赫兹视场环境的依赖，填补了对太赫兹成像仪探测器阵列校准方面的空白。

技术领域

本发明涉及太赫兹成像技术领域，具体涉及一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置。

背景技术

被动式太赫兹成像仪已广泛应用于地铁、火车站、大型展会等公共场所的安检安防领域。受限于太赫兹探测器的技术发展与生产成本，目前被动式太赫兹成像仪多使用单元探测器，线性拼接成探测器阵列，另加一维扫描的形式，来获取人体等被测目标的全视场图像。

探测器输出电压一般可表述为y＝kx+b的形式，其中，y为探测器输出电压，k为响应系数，x为输入太赫兹辐射功率，b为探测器背景噪声。对于目前的太赫兹波段探测器，不同的探测器之间k值差异不大且较为稳定，但b值差异较大，且随时间漂移较大，对成像效果影响较大。

为了减小此影响，可在太赫兹成像仪视场中放置太赫兹辐射较为均匀的背景板，或者寻找太赫兹成像仪视场中辐射较为均匀的区域，获取校准数据，计算探测器阵列中的不同探测器的相对b值。对于第一种方法，需要外部设备辅助，增加设备复杂度；对于第二种方法，需要太赫兹成像仪视场较为均匀，限制了使用环境。显然，上述两种方法都不利于太赫兹成像仪的外场铺设与使用。

对于可见光、红外光成像仪，多使用机械快门对阵列探测器进行校准。但是对于太赫兹成像仪，目前尚未见到相关文献对校准方式进行介绍。因此，提出一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于：如何解决对太赫兹成像仪探测器阵列的校准，提供了一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，也可称为一种太赫兹成像仪机械快门。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的，本发明包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。

更进一步地，所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。

更进一步地，所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关，所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集校准数据，所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。

更进一步地，所述测试校准组件包括太赫兹吸波材料板与支架，所述太赫兹吸波材料板设置在所述支架的一端。

更进一步地，所述测试校准组件还包括探测器挡板，所述太赫兹吸波材料板通过所述探测器挡板与所述支架连接。

更进一步地，在太赫兹成像仪采集校准数据时所述探测器挡板完全遮挡太赫兹成像仪的探测器阵列。

更进一步地，所述转动组件包括转轴、电机，所述支架的另一端与所述转轴连接，所述电机通过联轴器与所述转轴的端部连接，驱动所述转轴转动。

更进一步地，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片均设置在所述转轴上。