[发明专利]一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置

权利要求书

1.一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：包括转动组件、开关控制组件、测试校准组件、触发开关组件，所述开关控制组件与所述转动组件连接，所述触发开关组件与太赫兹成像仪电连接，通过调节所述开关控制组件的位置使所述触发开关组件开闭，控制切换太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程，所述测试校准组件与所述转动组件连接。

2.根据权利要求1所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述开关控制组件包括第一开关挡片、第二开关挡片，所述第一开关挡片、所述第二开关挡片随所述转动组件转动至不同位置控制太赫兹成像仪的工作模式与转动组件的运动过程。

3.根据权利要求2所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述触发开关组件包括第一限位开关与第二限位开关，所述第一限位开关被所述第一开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集校准数据，所述第二限位开关被所述第二开关挡片遮挡时，控制所述转动组件停止转动，同时触发太赫兹成像仪采集图像数据。

4.根据权利要求3所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述测试校准组件包括太赫兹吸波材料板与支架，所述太赫兹吸波材料板设置在所述支架的一端。

5.根据权利要求4所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述测试校准组件还包括探测器挡板，所述太赫兹吸波材料板通过所述探测器挡板与所述支架连接。

6.根据权利要求5所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：在太赫兹成像仪采集校准数据时所述探测器挡板完全遮挡太赫兹成像仪的探测器阵列。

7.根据权利要求6所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述转动组件包括转轴、电机，所述支架的另一端与所述转轴连接，所述电机通过联轴器与所述转轴的端部连接，驱动所述转轴转动。

8.根据权利要求7所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述第一开关挡片、所述第二开关挡片均设置在所述转轴上。

9.根据权利要求8所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述电机为步进电机或伺服电机。

10.根据权利要求9所述的一种太赫兹成像仪探测器阵列校准装置，其特征在于：所述电机加速与减速过程均采用Logistic函数脉冲驱动。