[发明专利]天线测试治具与天线测试系统

说明书

本发明公开一种天线测试治具与天线测试系统。天线测试治具包括电路基板、同轴接头、一个信号接点及两个接地接点。同轴接头耦接于电路基板。信号接点设置在电路基板，且信号接点电性连接同轴接头。两个接地接点设置在电路基板。信号接点位于两个接地接点之间。信号接点与两个接地接点是沿着电路基板的边缘呈线性排列。天线测试系统包括测试装置、第一天线组件、第一同轴缆线、第二天线组件、天线测试治具、第二同轴缆线、探针组件以及第三同轴缆线。

技术领域

本发明涉及一种天线测试治具与天线测试系统，尤其涉及一种适用于不同频段并且节省成本的天线测试治具与天线测试系统。

背景技术

目前，天线的OTA路径损耗测试，都是用喇叭天线(测量天线)对喇叭天线(待测天线)并且通过同轴电缆进行信号馈入的方式来进行测试。然而，在第五代移动通信技术(5G)的发展中，由于5G毫米波的高频率短波长的特性，毫米波(mmw)天线的尺寸普遍较小(以毫米为单位计量)。因此毫米波天线无法通过同轴电缆进行信号馈入。

在现有技术中，也有采用芯片天线作为参考天线来进行性能测试。但是，芯片天线受限于其特殊工艺，因此具有成本高昂且无弹性频段设计(固定在18GHz～26GHz)的缺点。

故，如何通过结构设计的改良，来克服上述的缺陷，已成为该项事业所欲解决的重要课题之一。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种天线测试治具，其包括：电路基板、同轴接头、一个信号接点以及两个接地接点。同轴接头耦接于电路基板。信号接点设置在电路基板，且信号接点电性连接同轴接头。两个接地接点设置在电路基板。信号接点位于两个接地接点之间，且信号接点与两个接地接点是沿着电路基板的边缘呈线性排列。

优选地，同轴接头为SMA接头。

为了解决上述的技术问题，本发明所采用的另外一技术方案是，提供一种天线测试系统，其包括测试装置、第一天线组件、第一同轴缆线、第二天线组件、天线测试治具、第二同轴缆线、探针组件以及第三同轴缆线。第一天线组件发射一电波信号。第二天线组件接收电波信号，且第二天线组件与第一天线组件相隔一预定距离。第一同轴缆线连接在第一天线组件与测试装置之间。第二同轴缆线连接于第二天线组件与天线测试治具之间。第三同轴缆线连接在探针组件与测试装置之间。

优选地，天线测试系统进一步包括：第二同轴接头，第二同轴接头耦接于第二天线组件，第二同轴缆线的一端连接第二同轴接头，另一端连接同轴接头。

优选地，天线测试系统进一步包括：第三同轴接头，第三同轴接头耦接于探针组件，其中，第三同轴缆线的一端连接第三同轴接头，另一端连接测试装置。

优选地，天线测试系统进一步包括：连接臂，连接臂连接探针组件，连接臂用以移动探针组件，使探针头接触信号接点以及两个接地接点。

优选地，第一天线组件及第二天线组件为喇叭天线。

优选地，同轴接头、第二同轴接头及第三同轴接头为SMA接头。

优选地，测试装置为向量网络分析仪。

优选地，测试装置用以发出一测试信号，并且测试装置借由测试信号经过一信号传递路径来测量所产生的信号损耗。

优选地，信号传递路径是由第一同轴缆线、第一天线组件、第二天线组件、第一天线组件与第二天线组件之间的无线传输、第二同轴缆线、探针组件以及第三同轴缆线共同形成，信号损耗包括由第一同轴缆线、第二同轴缆线及第三同轴缆线所造成的缆线信号损耗、由第一天线组件及第二天线组件所造成的天线信号损耗、由第一天线组件及第二天线组件之间的无线传输所造成的信号损耗，以及由探针组件所造成的探针信号损耗。