[发明专利]天线测试治具与天线测试系统在审
申请号: | 202011287730.6 | 申请日: | 2020-11-17 |
公开(公告)号: | CN112415283A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 曾士齐;刘祐成 | 申请(专利权)人: | 环旭电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 测试 系统 | ||
1.一种天线测试治具,其特征在于,所述天线测试治具包括:
一电路基板;
一同轴接头,耦接于所述电路基板上;
一信号接点,设置在所述电路基板,且所述信号接点电性连接所述同轴接头;以及
两个接地接点,设置在所述电路基板,其中,所述信号接点位于所述两个接地接点之间,且所述信号接点与所述两个接地接点是沿着所述电路基板的边缘呈线性排列。
2.根据权利要求1所述的天线测试治具,其特征在于,所述同轴接头为SMA接头。
3.一种天线测试系统,其特征在于,所述天线测试系统包括:
一测试装置;
一第一天线组件,用于发射一电波信号;
一第一同轴缆线,连接在所述第一天线组件与所述测试装置之间;
一第二天线组件,用于接收所述电波信号,且所述第二天线组件与所述第一天线组件相隔一预定距离;
一天线测试治具,包括一电路基板、一同轴接头、一信号接点以及两个接地接点,所述同轴接头耦接在所述电路基板上,所述信号接点设置在所述电路基板,且所述信号接点电性连接所述同轴接头,所述两个接地接点设置在所述电路基板,且所述信号接点位于所述两个接地接点之间,且所述信号接点与所述两个接地接点是沿着所述电路基板的边缘呈线性排列;
一第二同轴缆线,连接于所述第二天线组件与所述天线测试治具之间;
一探针组件,具有一探针头,所述探针组件通过所述探针头接触所述信号接点以及所述两个接地接点以电性连接所述同轴接头;以及
一第三同轴缆线,连接在所述探针组件与所述测试装置之间。
4.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述天线测试系统进一步包括:一第二同轴接头,耦接于所述第二天线组件,其中,所述第二同轴缆线的一端连接所述第二同轴接头,另一端连接所述同轴接头。
5.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述天线测试系统进一步包括:一第三同轴接头,耦接于所述探针组件,其中,所述第三同轴缆线的一端连接所述第三同轴接头,另一端连接所述测试装置。
6.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述天线测试系统进一步包括:一连接臂,连接所述探针组件,所述连接臂用以移动所述探针组件,使所述探针头接触所述信号接点以及所述两个接地接点。
7.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述第一天线组件及所述第二天线组件为喇叭天线。
8.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述同轴接头、所述第二同轴接头及所述第三同轴接头为SMA接头。
9.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述测试装置为向量网络分析仪。
10.根据权利要求3所述的天线测试系统,其特征在于,所述测试装置用以发出一测试信号,并且借由所述测试信号经过一信号传递路径来测量所产生的信号损耗。
11.根据权利要求10所述的天线测试系统,其特征在于,所述信号传递路径是由所述第一同轴缆线、所述第一天线组件、所述第二天线组件、所述第一天线组件与所述第二天线组件之间的无线传输、所述第二同轴缆线、所述探针组件以及所述第三同轴缆线共同形成,所述信号损耗包括由所述第一同轴缆线、所述第二同轴缆线及所述第三同轴缆线所造成的缆线信号损耗、由所述第一天线组件及所述第二天线组件所造成的天线信号损耗、由所述第一天线组件及所述第二天线组件之间的无线传输所造成的信号损耗,以及由所述探针组件所造成的探针信号损耗。
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