[发明专利]一种集成电路测试系统及方法在审
申请号: | 202011269377.9 | 申请日: | 2020-11-13 |
公开(公告)号: | CN112485653A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 蔡建荣;邱忠文;罗俊;吴兆希;王翔 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 李铁 |
地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 系统 方法 | ||
本发明提供一种集成电路测试系统及方法,系统包括:测试板模块、用于切换测试引脚的继电器阵列模块、用于发送测试指令的上位机、用于根据所述测试指令对继电器阵列模块进行控制的下位机;所述测试板模块与所述继电器阵列模块匹配连接,所述测试板模块与被测器件或被测电路相匹配,所述继电器阵列模块与所述下位机连接,所述下位机与所述上位机连接;通过上位机发送测试指令,下位机接收上位机发出的测试指令并对继电器阵列模块进行控制,继电器阵列模块与测试板模块匹配连接,实现对不同电路单元的引脚间的切换测试,测试效率较高,成本较低。
技术领域
本发明涉及电子领域,尤其涉及一种集成电路测试系统及方法。
背景技术
随着科技的发展,集成电路的规模越做越大,使得电路的引脚数越来越多,有些电路中包含较多的重复单元,目前,对集成电路或器件进行测试时,通常采用人工的方式在不同单元的引脚间进行重复切换测试,且需要制作多个检测板,然而,采用人工的方式进行切换测试会导致测试效率较低,安全性较低,测试一致性较低,成本较高,且容易对器件造成一定的安全隐患。
发明内容
本发明提供一种集成电路测试系统及方法,以解决现有技术中通过人工的方式在不同电路单元的引脚间进行重复切换测试造成测试效率较低及成本较高的问题。
本发明提供的集成电路测试系统,包括:
测试板模块、用于切换测试引脚的继电器阵列模块、用于发送测试指令的上位机、用于根据所述测试指令对继电器阵列模块进行控制的下位机;
所述测试板模块与所述继电器阵列模块匹配连接,所述测试板模块与被测器件或被测电路相匹配,所述继电器阵列模块与所述下位机连接,所述下位机与所述上位机连接。
可选的,所述继电器阵列模块包括:继电器阵列底板,所述继电器阵列底板均匀设有多个继电器。
可选的,所述下位机包括:下位机控制底板,所述下位机控制底板远离地面的一面设有单片机单元和USB接口单元,所述下位机通过所述USB接口单元与所述上位机连接。
可选的,还包括:用于放大信号输出功率的驱动电路阵列模块,所述继电器阵列模块通过所述驱动电路阵列模块与所述下位机连接。
可选的,所述驱动电路阵列模块包括:驱动电路阵列板,所述驱动器阵列板的一面均匀设置有多个驱动电路,所述驱动电路包括:NMOS管、寄生二极管、稳压二极管,所述NMOS管的栅极与所述下位机连接,所述NMOS管的源极接地,所述稳压二极管的正极与所述NMOS管的源极连接并接地,所述稳压二极管的负极与所述NMOS管的栅极连接,所述NMOS管的漏极与所述继电器阵列模块连接,所述寄生二极管的正极与所述NMOS管的源极连接,所述寄生二极管的负极与所述NMOS管的漏极连接。
可选的,所述测试板模块包括:测试基板,所述测试基板远离所述继电器阵列模块的一面设有用于固定被测器件或被测电路的测试夹具。
可选的,所述测试基板远离所述测试夹具的一面通过航空插座与继电器阵列底板连接,所述继电器阵列底板靠近地面的一面通过航空插座与下位机控制底板连接。
可选的,所述驱动电路的输出端与一个或多个继电器的输入端连接。
本发明还提供一种集成电路测试方法,包括:
发出测试指令;
根据所述测试指令,对继电器阵列模块进行控制;
通过对所述继电器阵列模块的控制,获取测试参数数据;
判断所述测试参数数据是否处于预设的参数阈值范围,进而获取并输出判断结果;
根据所述判断结果,判断是否发出警报;
完成对多个引脚的切换测试。
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