[发明专利]一种集成电路测试系统及方法

权利要求书

1.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括：

测试板模块、用于切换测试引脚的继电器阵列模块、用于发送测试指令的上位机、用于根据所述测试指令对继电器阵列模块进行控制的下位机；

所述测试板模块与所述继电器阵列模块匹配连接，所述测试板模块与被测器件或被测电路相匹配，所述继电器阵列模块与所述下位机连接，所述下位机与所述上位机连接。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述继电器阵列模块包括：继电器阵列底板，所述继电器阵列底板均匀设有多个继电器。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述下位机包括：下位机控制底板，所述下位机控制底板远离地面的一面设有单片机单元和USB接口单元，所述下位机通过所述USB接口单元与所述上位机连接。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，还包括：用于放大信号输出功率的驱动电路阵列模块，所述继电器阵列模块通过所述驱动电路阵列模块与所述下位机连接。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述驱动电路阵列模块包括：驱动电路阵列板，所述驱动器阵列板的一面均匀设置有多个驱动电路，所述驱动电路包括：NMOS管、寄生二极管、稳压二极管，所述NMOS管的栅极与所述下位机连接，所述NMOS管的源极接地，所述稳压二极管的正极与所述NMOS管的源极连接并接地，所述稳压二极管的负极与所述NMOS管的栅极连接，所述NMOS管的漏极与所述继电器阵列模块连接，所述寄生二极管的正极与所述NMOS管的源极连接，所述寄生二极管的负极与所述NMOS管的漏极连接。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述测试板模块包括：测试基板，所述测试基板远离所述继电器阵列模块的一面设有用于固定被测器件或被测电路的测试夹具。

7.根据权利要求6所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述测试基板远离所述测试夹具的一面通过航空插座与继电器阵列底板连接，所述继电器阵列底板靠近地面的一面通过航空插座与下位机控制底板连接。

8.根据权利要求5所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述驱动电路的输出端与一个或多个继电器的输入端连接。

9.一种集成电路测试方法，其特征在于，包括：

发出测试指令；

根据所述测试指令，对继电器阵列模块进行控制；

通过对所述继电器阵列模块的控制，获取测试参数数据；

判断所述测试参数数据是否处于预设的参数阈值范围，进而获取并输出判断结果；

根据所述判断结果，判断是否发出警报；

完成对多个引脚的切换测试。

10.根据权利要求9所述的集成电路测试方法，其特征在于，根据所述测试指令，对继电器阵列模块进行控制的步骤包括：

根据所述测试指令，获取对所述继电器阵列模块的控制指令；

根据所述控制指令，控制所述继电器阵列模块进行测试引脚切换；

通过对所述继电器阵列模块的测试引脚切换的控制，获取所述测试参数数据。