[发明专利]样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备

说明书

本申请实施例公开了一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备。所述方法包括：按照初始参数，对样品加电，获取所述样品的红外图像中的热点；若检测到参数调节事件，按照预设规则对加电的参数进行调节；根据所述热点的变化规律，确定最佳参数。执行本方案，可以在无损的情况下，通过加电的方式形成热点，并且可以通过控制加电参数，寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。

技术领域

本申请实施例涉及电子科技技术领域，尤其涉及一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备。

背景技术

由于现在的世界潮流为科技化、智能化，在电子科技领域中各种电子器件的使用越来越广泛。例如芯片、磁盘以及缓存等器件，由于需求量的急剧增加，生产量也势必会有所浮动。而在电子器件制作完成之后，对于其内部线路的检测，是目前比较广泛的技术问题。

现有的一些检测方法中，当属开放式检测结果最为准确，但是需要将电子器件拆开，而且这种检测方式是具有破坏性的，并不能够得到极大的推广。而其他的检测方式中，以专业技术人员的顶级人员采用人工的检测为主，具体的，例如对芯片的各个引脚进行测试。这种方式不仅复杂，而且受限于检测人员的技能要求，无法被广泛使用。因此，一种简便的、准确的并且能够清晰的反映出电子器件问题的方式，亟待被开发出来。

发明内容

本申请实施例提供一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备，可以在无损的情况下，通过加电的方式形成热点，并且可以通过控制加电参数，寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。

第一方面，本申请实施例提供了一种样品检测电参数的自调节方法，所述方法包括：

按照初始参数，对样品加电，获取所述样品的红外图像中的热点；

若检测到参数调节事件，按照预设规则对加电的参数进行调节；

根据所述热点的变化规律，确定最佳参数。

进一步的，加电的占空比为1:1，所述参数为加电的频率。

进一步的，若所述初始参数为最低参数，则按照预设规则对加电的参数进行调节，包括：

按照逐渐升高的调节方式，对加电的参数进行调节；

若所述初始参数为最高参数，则按照预设规则对加电的参数进行调节，包括：

按照逐渐降低的调节方式，对加电的参数进行调节；

若所述初始参数为中间参数，则按照预设规则对加电的参数进行调节，包括：

先由所述中间参数逐渐升高至最高参数；再由所述中间参数逐渐降低至最低参数。

进一步的，在按照初始参数，对样品加电之前，所述方法还包括：

生成输入初始参数的提示信息；

若在预设时间内未检测到初始参数的键入值，则使用默认初始参数；

若在预设时间内检测到初始参数的键入值，则使用所述键入值作为初始参数。

进一步的，所述参数调节事件，包括：

若所述热点的强度高于设定强度阈值，和/或，若所述热点的面积大于设定面积阈值，则确定检测到参数调节事件。

进一步的，所述参数调节事件，还包括：

若检测到的当前参数的加电时长达到预设加电时长，则确定检测到参数调节事件

进一步的，根据所述热点的变化规律，确定最佳参数，包括：

在热点的变化的过程中，若热点的当前状态为面积小于设定面积阈值且强度符合设定区间，则确定当前状态对应的参数调节结果为最佳参数。