[发明专利]样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备有效
| 申请号: | 202011239211.2 | 申请日: | 2020-11-09 |
| 公开(公告)号: | CN112461369B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
| 发明(设计)人: | 刘者;龚慧兰;秦丹 | 申请(专利权)人: | 泓准达科技(上海)有限公司 |
| 主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01R31/52;H03L7/099 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 样品 检测 参数 调节 方法 装置 介质 电子设备 | ||
1.一种样品检测电参数的自调节方法,其特征在于,用于对电子器件进行无损检测,该方法包括:
按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
根据所述热点的变化规律,确定最佳参数;
所述参数为加电的频率;所述若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节包括:根据所述热点的变化情况,按照预设速度控制所述加电的频率在至少两个预设频率之间进行切换;
所述方法还包括:在所述热点变化的过程中,录制所述热点变化过程的视频。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,加电的占空比为1:1。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,若所述初始参数为最低参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐升高的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为最高参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐降低的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为中间参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
先由所述中间参数逐渐升高至最高参数;再由所述中间参数逐渐降低至最低参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在按照初始参数,对样品加电之前,所述方法还包括:
生成输入初始参数的提示信息;
若在预设时间内未检测到初始参数的键入值,则使用默认初始参数;
若在预设时间内检测到初始参数的键入值,则使用所述键入值作为初始参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数调节事件,包括:
若所述热点的强度高于设定强度阈值,和/或,若所述热点的面积大于设定面积阈值,则确定检测到参数调节事件。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述参数调节事件,还包括:
若检测到的当前参数的加电时长达到预设加电时长,则确定检测到参数调节事件。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述热点的变化规律,确定最佳参数,包括:
在热点的变化的过程中,若热点的当前状态为面积小于设定面积阈值且强度符合设定区间,则确定当前状态对应的参数调节结果为最佳参数。
8.一种样品检测电参数的自调节装置,其特征在于,用于对电子器件进行无损检测,该装置包括:
热点获取模块,用于按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
参数调节模块,用于若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
最佳参数确定模块,用于根据所述热点的变化规律,确定最佳参数;
所述参数为加电的频率;所述参数调节模块,还用于根据所述热点的变化情况,按照预设速度控制所述加电的频率在至少两个预设频率之间进行切换;
其中,所述热点获取模块,还用于在所述热点变化的过程中,录制所述热点变化过程的视频。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的样品检测电参数的自调节方法。
10.一种电子设备,包括存储器,处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的样品检测电参数的自调节方法。
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