[发明专利]一种裸硅封装MOS管在审

专利信息
申请号: 202011232322.0 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN112420623A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 涂振坤;苗义敬;王泽斌 申请(专利权)人: 普森美微电子技术(苏州)有限公司
主分类号: H01L23/04 分类号: H01L23/04;H01L23/053;H01L23/16;H01L23/32
代理公司: 北京化育知识产权代理有限公司 11833 代理人: 尹均利
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 封装 mos
【说明书】:

发明公开了一种裸硅封装MOS管,包括底板、陶瓷座和MOS管本体,所述陶瓷座固定连接在底板上表面,所述陶瓷座上表面中间位置开设有圆弧槽,所述圆弧槽内壁粘接有橡胶条,所述陶瓷座表面分别固定连接卡座和连接座,所述连接座顶端铰链连接顶板,所述顶板上表面固定连接肋条,所述顶板下表面中间位置固定连接橡胶座。本发明通过顶板对MOS管本体进行抗压保护,防磨损和防撞击性能好,肋条提高顶板的结构强度,防止变形和断裂,陶瓷座对MOS管本体支撑固定,具有防漏电保护效果,防止MOS管本体漏电传递至壳体表面,提高使用的安全性。

技术领域

本发明涉及MOS管相关技术领域,具体为一种裸硅封装MOS管。

背景技术

金属氧化物半导体场效应(MOS)晶体管可分为N沟道与P沟道两大类,P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区,分别叫做源极和漏极,两极之间不通导,源极上加有足够的正电压(栅极接地)时,栅极下的N型硅表面呈现P型反型层,成为连接源极和漏极的沟道。改变栅压可以改变沟道中的空穴密度,从而改变沟道的电阻。这种MOS场效应晶体管称为P沟道增强型场效应晶体管。如果N型硅衬底表面不加栅压就已存在P型反型层沟道,加上适当的偏压,可使沟道的电阻增大或减小。这样的MOS场效应晶体管称为P沟道耗尽型场效应晶体管。统称为PMOS晶体管。

MOSFET共有三个脚,一般为G、D、S,通过G、S间加控制信号时可以改变D、S间的导通和截止。PMOS和NMOS在结构上完全相像,所不同的是衬底和源漏的掺杂类型。简单地说,NMOS是在P型硅的衬底上,通过选择掺杂形成N型的掺杂区,作为NMOS的源漏区;PMOS是在N型硅的衬底上,通过选择掺杂形成P型的掺杂区,作为PMOS的源漏区。两块源漏掺杂区之间的距离称为沟道长度L,而垂直于沟道长度的有效源漏区尺寸称为沟道宽度W。对于这种简单的结构,器件源漏是完全对称的,只有在应用中根据源漏电流的流向才能最后确认具体的源和漏。

但是,现有的裸硅封装MOS管在使用的时候存在以下缺点:

1、裸硅封装MOS管在相对壳体安装的时候,不具备抗压防撞保护,在组装的时候,MOS管受到磨损或者撞击,均会造成其功能的衰减,甚至造成报废;

2、裸硅封装MOS管与壳体之间直接安装,存在漏电的可能性,降低使用效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种裸硅封装MOS管,以解决上述背景技术中的裸硅封装MOS管在相对壳体安装的时候,不具备抗压防撞保护,在组装的时候,MOS管受到磨损或者撞击,均会造成其功能的衰减,甚至造成报废;裸硅封装MOS管与壳体之间直接安装,存在漏电的可能性,降低使用效果的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种裸硅封装MOS管,包括底板、陶瓷座和MOS管本体,所述陶瓷座固定连接在底板上表面,所述陶瓷座上表面中间位置开设有圆弧槽,所述圆弧槽内壁粘接有橡胶条,所述陶瓷座表面分别固定连接卡座和连接座,所述连接座顶端铰链连接顶板,所述顶板上表面固定连接肋条,所述顶板下表面中间位置固定连接橡胶座,通过顶板对MOS管本体进行抗压保护,防磨损和防撞击性能好,肋条提高顶板的结构强度,防止变形和断裂,陶瓷座对MOS管本体支撑固定,具有防漏电保护效果,防止MOS管本体漏电传递至壳体表面,提高使用的安全性。

优选的,所述顶板自由端下表面位置固定连接卡台,所述卡台外部套接有橡胶圈,MOS管本体底部插接在陶瓷座的圆弧槽内部,相对连接座转动顶板,顶板下方的橡胶座压合在MOS管本体上表面,方便快速安装,顶板的卡台插接在卡座内部,实现了对MOS管本体的压紧固定。

优选的,所述陶瓷座正面位置开设有置物槽,所述置物槽内部安装夹座,陶瓷座对MOS管本体支撑固定,具有防漏电保护效果,防止MOS管本体漏电传递至壳体表面,提高使用的安全性,通过在置物槽内部放置袋装干燥剂,具有很好的吸湿防潮功能,夹座对袋装干燥剂夹持固定,提高稳定性。

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