[发明专利]平行测试装置在审
申请号: | 202011221713.2 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN112863588A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 朴灿石 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 朱颖;刘芳 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 平行 测试 装置 | ||
1.一种平行测试装置,包括:
输入/输出衬垫,配置成执行所述平行测试装置中的输入/输出操作;
多个输入缓冲器,配置成启用写入数据;以及
多个输出驱动器,配置成启用读取数据且将所述读取数据输出到所述输入/输出衬垫;
其中对应于来自外部装置的数据的测试信号在测试模式期间通过所述平行测试装置中的所述输入/输出衬垫传送到所述输出驱动器。
2.根据权利要求1所述的平行测试装置,进一步包括:
压缩电路,配置成在数据压缩期间压缩来自所述平行测试装置的存储器单元阵列的数据以产生压缩数据。
3.根据权利要求2所述的平行测试装置,进一步包括:
输出缓冲器,配置成从所述压缩电路接收所述压缩数据。
4.根据权利要求2所述的平行测试装置,其中在所述数据压缩期间,相同数据通过写入数据寄存器写入到多个写入驱动器中。
5.根据权利要求2所述的平行测试装置,压缩电路进一步包括:
多个互斥NOR门;以及
AND门。
6.根据权利要求1所述的平行测试装置,其中对应于来自所述外部装置的所述数据的所述测试信号在所述测试模式期间不传送到所述输入缓冲器。
7.根据权利要求1所述的平行测试装置,其中来自所述外部装置的所述数据是双态触变型样。
8.根据权利要求1所述的平行测试装置,进一步包括:
校准装置,配置成产生校准方案以调谐所述输出驱动器。
9.根据权利要求8所述的平行测试装置,进一步包括:
延迟锁定回路时钟产生器,配置成在所述测试模式期间对所述平行测试装置产生内部时钟。
10.根据权利要求1所述的平行测试装置,进一步包括:
多个读取驱动器,配置成驱动来自存储器单元阵列的所述读取数据;以及
多个写入驱动器,配置成驱动来自所述存储器单元阵列的所述写入数据。
11.根据权利要求1所述的平行测试装置,其中在所述测试模式期间,对应于来自所述外部装置的所述数据的所述测试信号响应于测试模式启用信号而通过所述输入/输出衬垫传送到所述输出驱动器。
12.根据权利要求1所述的平行测试装置,其中所述输入/输出衬垫细分成多个输入/输出衬垫单元。
13.根据权利要求12所述的平行测试装置,其中所述输入/输出衬垫包括在所述测试模式期间所用的数据衬垫和在所述测试模式期间未使用的其它输入/输出衬垫单元。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华邦电子股份有限公司,未经华邦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011221713.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:静电吸盘
- 下一篇:用于生产超细粉末的制品及其制造方法