[发明专利]一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备

说明书

本申请适用于发光二极管技术领域，提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备，所述方法包括：获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。通过上述方法，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。

技术领域

本申请属于发光二极管技术领域，尤其涉及一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置、终端设备及计算机可读存储介质。

背景技术

近年来，发光器件(如量子点发光二极管和有机发光二极管)因具备高亮度、低功耗、广色域及易加工等诸多优点在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。在发光器件的研发过程中，通常需要对发光器件的寿命进行测试。然而，现有的寿命测试方法只适用于发光均匀的发光器件，对于发光不均匀的发光器件，无法准确测试出其寿命。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置、终端设备及计算机可读存储介质，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。

第一方面，本申请提供了一种发光器件的寿命测试方法，应用于终端设备，上述终端设备连接有采集装置，上述寿命测试方法包括：

获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；

向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；

通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；

根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。

第二方面，本申请提供了一种发光器件的寿命测试装置，应用于终端设备，上述终端设备连接有采集装置，上述寿命测试装置包括：

数据获取单元，用于获取驱动信号值和参考亮度，上述参考亮度为上述发光器件在驱动信号下的亮度，上述驱动信号值小于预设的信号阈值；

信号控制单元，用于向上述发光器件输出测试信号，并将上述测试信号的大小从上述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；

电流获得单元，用于通过上述采集装置采集上述发光器件发射的光信号，获得与上述光信号对应的实时光电流；

寿命测试单元，用于根据上述实时光电流和上述参考亮度得到上述发光器件的实时亮度，以确定上述发光器件的寿命。

第三方面，本申请提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序，上述处理器执行上述计算机程序时实现如上述第一方面所提供的方法。

第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有计算机程序，上述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所提供的方法。

第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面所提供的方法。