[发明专利]一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备

权利要求书

1.一种发光器件的寿命测试方法，其特征在于，应用于终端设备，所述终端设备连接有采集装置，所述寿命测试方法包括：

获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；

向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；

通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；

根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。

2.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述驱动信号及所述测试信号均为电压信号；所述将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：

将所述测试信号的电压值从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准电压值。

3.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述驱动信号及所述测试信号均为电流信号；所述将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值，包括：

将所述测试信号的电流值从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准电流值。

4.根据权利要求1所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命，包括：

根据初始时刻的实时光电流和所述参考亮度计算校正因子，所述初始时刻为所述测试信号的大小等于所述驱动信号值的时刻；

将所述初始时刻之后的实时光电流与所述校正因子的乘积作为所述发光器件的实时亮度；

根据所述发光器件的实时亮度测试所述发光器件的寿命。

5.根据权利要求4所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述发光器件的实时亮度测试所述发光器件的寿命，包括：

将所述发光器件的实时亮度与目标亮度进行比较；

当所述发光器件的实时亮度衰减至所述目标亮度时，得到所述发光器件的寿命；

其中，所述目标亮度为最大实时亮度与预设的亮度衰减百分比的乘积，所述最大实时亮度为所述测试信号达到所述标准信号值时所述发光器件的实时亮度，所述发光器件的寿命为所述发光器件的实时亮度从所述最大实时亮度衰减至所述目标亮度所经过的时长。

6.根据权利要求4所述的寿命测试方法，其特征在于，所述根据初始时刻的实时光电流和所述参考亮度计算校正因子，包括：

将所述参考亮度与所述初始时刻的实时光电流的比值作为所述校正因子。

7.根据权利要求1至6任一项所述的寿命测试方法，其特征在于，所述参考亮度为所述发光器件的发光区域上预设数量个指定位置点的亮度的平均值。

8.一种发光器件的寿命测试装置，其特征在于，应用于终端设备，所述终端设备连接有采集装置，所述寿命测试装置包括：

数据获取单元，用于获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；

信号控制单元，用于向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；

电流获得单元，用于通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；

寿命测试单元，用于根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。

9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。