[发明专利]一种圆柱体同轴度偏移量测量工具在审

专利信息
申请号: 202011205946.3 申请日: 2020-11-02
公开(公告)号: CN112414278A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 彭友仙;陈浩瀚;包卫军;李瑞花;佘冰;陈俊坡;林希;许淡明 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司惠州供电局
主分类号: G01B5/252 分类号: G01B5/252
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 圆柱体 同轴 偏移 测量 工具
【说明书】:

发明涉及同轴度测量技术领域,具体公开了一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,用来测量两圆柱体之间的同轴度,圆柱体同轴度偏移量测量工具包括支撑组件和测量组件,支撑组件包括基准环和锁紧件,基准环包括可拆卸连接的第一半圆环和第二半圆环,基准环套设于第一圆柱体,锁紧件将基准环和第一圆柱体锁定,第一圆柱体和基准环同轴线;测量组件包括千分表和基准架,基准架与基准环滑动连接,基准架的滑动轨迹以基准环的轴线为圆心的圆,千分表包括测量杆,测量杆浮动设置于基准架,测量杆与基准环的轴线垂直与第二圆柱体的外周面抵接。该同轴度偏移量测量工具可在恶劣环境或第一圆柱体和第二圆柱体无法拆卸时,对同轴度进行测量。

技术领域

本发明涉及同轴度测量技术领域,尤其涉及一种圆柱体同轴度偏移量测量工具。

背景技术

在电力设备的安装维护中,导体和触座安装后极易出现导体和触座的同轴度偏差较大,进而导致安装在触座内部的触指与导体的同轴度偏移量过大,导致电流局部集中,从而引起触指发热逐渐烧蚀,经过长期的运行,最终烧融变形。

当前大多测量同轴度的设备均需要取下待测体进行测量,但是,有些待测体一旦脱离原工作环境会导致相关设备停止工作,甚至导致巨大的经济损失。

发明内容

本发明的目的在于:提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,以解决相关技术中有些待测件在工作中需要进行同轴度测量的问题。

本发明提供一种圆柱体同轴度偏移量测量工具,该圆柱体同轴度偏移量测量工具用来测量第一圆柱体和第二圆柱体之间的同轴度,所述第一圆柱体一端与所述第二圆柱体一端固接,所述圆柱体同轴度偏移量测量工具包括:

支撑组件,所述支撑组件包括基准环和锁紧件,所述基准环包括可拆卸连接的第一半圆环和第二半圆环,所述基准环套设于所述第一圆柱体,所述锁紧件将所述基准环和所述第一圆柱体的相对位置锁定,且所述第一圆柱体和所述基准环同轴线;

测量组件,所述测量组件包括千分表和基准架,所述基准架与所述基准环滑动连接,且所述基准架的滑动轨迹为以所述基准环的轴线为圆心的圆,所述千分表包括测量杆,所述测量杆浮动设置于所述基准架,所述测量杆与所述基准环的轴线垂直且与所述第二圆柱体的外周面抵接。

作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述测量组件还包括基准杆,所述基准杆设置于所述基准架,且所述基准杆与所述测量杆的轴线平行,所述基准杆与所述第一圆柱体的外周面抵接。作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述测量组件还包括第一紧固件,所述基准架设置有第一通孔,所述第一紧固件将穿设于所述第一通孔,所述第一通孔的内径大于所述基准杆的外径,所述第一紧固件将所述基准架和所述基准杆的相对位置锁定。

作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准架设置有第二通孔,所述千分表还包括穿设于所述第二通孔的套筒,所述测量杆浮动设置于所述套筒,所述套筒的外径小于所述第二通孔的内径;

所述测量组件还包括第二紧固件,所述第二紧固件将所述基准架和所述套筒的相对位置锁定。

作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述第一半圆环的一端与所述第二半圆环的一端铰接,所述第一半圆环的另一端与所述第二半圆环的另一端卡接。

作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准环设置有螺纹孔,所述螺纹孔的数量至少为三个,且至少三个所述螺纹孔均布于基准环的圆周方向,对应各个所述螺纹孔均设有所述锁紧件,所述锁紧件螺接于所述螺纹孔且与所述第一圆柱体的外周面抵接。作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述基准环还包括深度千分尺,所述深度千分尺用于测量所述锁紧件旋入所述螺纹孔内的长度。

作为圆柱体同轴度偏移量测量工具的优选技术方案,所述锁紧件与所述第一圆柱体抵接的面设置为磨砂面。

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