[发明专利]一种圆柱体同轴度偏移量测量工具

权利要求书

1.一种圆柱体同轴度偏移量测量工具，用来测量第一圆柱体(100)和第二圆柱体(200)之间的同轴度，所述第一圆柱体(100)一端与所述第二圆柱体(200)一端固接，其特征在于，所述圆柱体同轴度偏移量测量工具包括：

支撑组件(1)，所述支撑组件(1)包括基准环(11)和锁紧件(12)，所述基准环(11)包括可拆卸连接的第一半圆环(111)和第二半圆环(112)，所述基准环(11)套设于所述第一圆柱体(100)，所述锁紧件(12)将所述基准环(11)和所述第一圆柱体(100)的相对位置锁定，且所述第一圆柱体(100)和所述基准环(11)同轴线；

测量组件(2)，所述测量组件(2)包括千分表(22)和基准架(21)，所述基准架(21)与所述基准环(11)滑动连接，且所述基准架(21)的滑动轨迹为以所述基准环(11)的轴线为圆心的圆，所述千分表(22)包括测量杆(221)，所述测量杆(221)浮动设置于所述基准架(21)，所述测量杆(221)与所述基准环(11)的轴线垂直且与所述第二圆柱体(200)的外周面抵接。

2.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述测量组件(2)还包括基准杆(23)，所述基准杆(23)设置于所述基准架(21)，且所述基准杆(23)与所述测量杆(221)的轴线平行，所述基准杆(23)与所述第一圆柱体(100)的外周面抵接。

3.根据权利要求2所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述测量组件(2)还包括第一紧固件(24)，所述基准架(21)设置有第一通孔，所述第一紧固件(24)穿设于所述第一通孔，所述第一通孔的内径大于所述基准杆(23)的外径，所述第一紧固件(24)将所述基准架(21)和所述基准杆(23)的相对位置锁定。

4.根据权利要求2所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述基准架(21)设置有第二通孔，所述千分表(22)还包括穿设于所述第二通孔的套筒(222)，所述测量杆(221)浮动设置于所述套筒(222)，所述套筒(222)的外径小于所述第二通孔的内径；

所述测量组件(2)还包括第二紧固件(25)，所述第二紧固件(25)将所述基准架(21)和所述套筒(222)的相对位置锁定。

5.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述第一半圆环(111)的一端与所述第二半圆环(112)的一端铰接，所述第一半圆环(111)的另一端与所述第二半圆环(112)的另一端卡接。

6.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述基准环(11)设置有螺纹孔，所述螺纹孔的数量至少为三个，且至少三个所述螺纹孔均布于基准环(11)的圆周方向，对应各个所述螺纹孔均设有所述锁紧件(12)，所述锁紧件(12)螺接于所述螺纹孔且与所述第一圆柱体(100)的外周面抵接。

7.根据权利要求6所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述基准环(11)还包括深度千分尺(113)，所述深度千分尺(113)用于测量所述锁紧件(12)旋入所述螺纹孔内的长度。

8.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述锁紧件(12)与所述第一圆柱体(100)抵接的面设置为磨砂面。

9.根据权利要求1所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，所述基准环(11)具有环形的滑动轨道(114)，所述滑动轨道(114)和所述基准环(11)同轴；

测量组件(2)还包括转动设置于所述基准架(21)的一端的滑动部件(26)，所述滑动部件(26)滑动位于所述滑动轨道(114)。

10.根据权利要求9所述的圆柱体同轴度偏移量测量工具，其特征在于，滑动部件(26)包括固定于所述基准架(21)一端的板件(261)，以及间隔设置的两个辊轮(262)，两个所述辊轮(262)均与所述板件(261)转动连接，且两个所述辊轮(262)均滑动位于所述滑动轨道(114)。