[发明专利]一种芯片的测试方法、终端和存储介质

说明书

本申请适用于计算机领域，提供了一种芯片的检测方法、终端和存储介质。其中，该芯片的检测方法包括：获取第一测试数据、测试地址和读写方式，所述测试地址为待测试芯片的数据存储地址；根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片；根据所述读写方式，读取所述待测试芯片中所述测试地址指向的第一存储数据；比对所述第一存储数据与所述第一测试数据，并根据比对结果，确定所述待测试芯片的读写是否存在异常。本申请的实施例能够提高芯片测试的可靠性。

技术领域

本申请属于计算机领域，尤其涉及一种芯片的测试方法、终端和存储介质。

背景技术

存储器是用来存储程序和各种数据信息的记忆部件。而对存储芯片的测试算法是存储器测试的核心，现有的主要测试方式是March算法，该算法能够检测多种故障类型，如固定故障(Stuck-at faults，SAF)、转换故障(Transition faults，TF)、耦合故障(Coupling faults，CF)和寻址故障(Adress decoder faults，AF)。

但是，March算法的可靠性较低。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片的测试方法、终端和存储介质，可以解决目前芯片测试方法的可靠性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供一种芯片的检测方法，包括：

获取第一测试数据、测试地址和读写方式，所述测试地址为待测试芯片的数据存储地址；

根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片；

根据所述读写方式，读取所述待测试芯片中所述测试地址指向的第一存储数据；

比对所述第一存储数据与所述第一测试数据，并根据比对结果，确定所述待测试芯片的读写是否存在异常。

本申请实施例第二方面提供的一种芯片的检测装置，包括：

获取单元，用于获取第一测试数据、测试地址和读写方式，所述测试地址为待测试芯片的数据存储地址；

写入单元，用于根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片；

读取单元，用于根据所述读写方式，读取所述待测试芯片中所述测试地址指向的第一存储数据；

测试单元，用于比对所述第一存储数据与所述第一测试数据，并根据比对结果，确定所述待测试芯片的读写是否存在异常。

本申请实施例第三方面提供一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

本申请实施例第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

本申请实施例第五方面提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端上运行时，使得终端执行时实现方法的步骤。

本申请的实施例，首先，获取待测试芯片和第一测试数据、测试地址和读写方式。然后，根据读写方式，将第一测试数据写入到测试地址中。接着，根据读写方式，读取测试地址中存储的第一存储数据。比对第一存储数据与第一测试数据，并根据比对结果，确定芯片的读写是否存在异常。本申请的实施例考虑了测试数据、测试地址和读写方式三个不同的维度对芯片进行读写能力的测试。相较于March算法，能够测试出实际应用过程中进行读写存在的故障。因此，本申请的实施例能够检测出March算法无法检测出的故障，提高了芯片测试的可靠性。

附图说明