[发明专利]一种芯片的测试方法、终端和存储介质

权利要求书

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取第一测试数据、测试地址和读写方式，所述测试地址为待测试芯片的数据存储地址；

根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片；

根据所述读写方式，读取所述待测试芯片中所述测试地址指向的第一存储数据；

比对所述第一存储数据与所述第一测试数据，并根据比对结果，确定所述待测试芯片的读写是否存在异常。

2.如权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述获取第一测试数据，包括：

获取所述待测试芯片的存储总容量；

根据所述存储总容量，确定多个测试数据体积；

获取多个第一测试数据，其中所述第一测试数据的体积，与所述测试数据体积一一对应。

3.如权利要求2所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片，包括：

从多个所述第一测试数据中筛选出一个第二测试数据；

获取测试首地址；

根据所述第二测试数据的体积和所述测试首地址，确定测试末地址；

根据所述读写方式、所述测试首地址和所述测试末地址，将所述第二测试数据写入至所述待测试芯片；

相应的，所述芯片的测试方法还包括：

若所述芯片的读写不存在异常，则返回执行所述从多个所述第一测试数据中筛选出一个第二测试数据的操作，直至所有所述第一测试数据，均被写入至所述待测试芯片。

4.如权利要求3所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述根据所述第二测试数据的数据大小和所述测试首地址，确定测试末地址，包括：

获取所述待测试芯片中每个存储单元的存储容量，以及所述待测试芯片的存储块数量、行数量和列数量；

根据所述第二测试数据的体积、所述测试首地址和所述存储容量，确定测试末地址。

5.如权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述读写方式的数量大于1，所述根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片，包括：

根据各个所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据多次写入至所述待测试芯片，其中，每次写入所述待测试芯片所采用的所述读写方式均不相同。

6.如权利要求5所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述待测试芯片的数据存储地址包含：存储块地址、行地址和列地址；

每种所述读写方式中，均包含一种对存储块地址、行地址和列地址的读写顺序，且每种读写方式包含的读写顺序均不相同；

相应的，根据单个所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据多次写入至所述待测试芯片，包括：

根据该读写方式包含的读写顺序，向所述待测试芯片中的所述测试地址写入所述第一测试数据。

7.如权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述获取测试地址，包括：

获取预设的第一随机算法，并根据所述第一随机算法生成所述测试地址。

8.如权利要求1所述的芯片的测试方法，其特征在于，所述获取第一测试数据，包括：

获取所述待测试芯片中每个存储单元的存储容量；

获取预设的第二随机算法；

根据所述存储容量和所述第二随机算法生成多个随机数据，每个所述随机数据的大小等于所述存储容量；

根据所述多个随机数据，确定所述第一测试数据。