[发明专利]图像取得系统以及图像取得方法

说明书

本发明涉及图像取得系统以及图像取得方法。在图像取得系统中，简便地大范围测定应变分布。使用成为基准的基准外部磁场，并照射光来取得成为基准的样品的基准磁畴图像，在使外部磁场在变化的同时进行施加的状态下取得多个磁畴图像，取得从多个磁畴图像分别扣除基准磁畴图像的多个扣除图像，从多个扣除图像分别提取磁畴翻转的磁畴翻转区域，通过将分别具有磁畴翻转区域的多个扣除图像合成，来取得具有多个磁畴翻转区域的合成图像。

技术领域

本发明涉及图像取得系统以及图像取得方法。

背景技术

近年来，为了减低环境负担而节能化的需求提高。与该趋势相伴，电动机、螺线管、变压器等电子控制部件的高性能化、高控制化、高效率化以及省电化是当务之急。这些部件主要包含电线和铁芯，进行电能与磁能的变换。在此，能效率良好地能量变换在节能对策中最为重要。

该铁芯主要使用软磁性材料，一般使用电磁钢板。在电磁钢板、软磁性体材料中，若产生应力、应变，材料强度、磁特性就会变化。通常，应力、应变会引起材料脆化等，成为破损的原因。另外，在样品内磁特性不均匀会妨碍特性提升。

但在一部分电磁钢板中，能通过有效果地控制应变来提升性能。在磁性材料中，已知根据粒子的形状、大小、粒径方差、粒子与粒子之间的晶界形状等，磁特性会较大变化。

因此，需要能简便判断应变的有无且评价该应变所影响的区域，进而弄清应变产生的原因的手段。同时，还需要也能评价粒子形状、粒径、粒径方差等的手段。

过去，作为应力应变评价中所用的方法，有使用X射线的方法、基于透射型电子显微镜(TEM)、电子线背散射衍射法(EBSD)等的测定晶格常数的变化的方法。另外，作为粒径解析，有利用反射电子(BSE)像的方法。例如在专利文献1中，公开了以已知的材料为基础来估计磁导率的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2002-156361号公报

过去，在利用应力应变评价中所用的X射线的测定中，由于仅知道样品片整体的平均的应变的值，因此不能确定发生应变的场所。另外，基于TEM的应变测定是nm级别的评价，难以大范围测定样品。

同样地，由于在基于EBSD的应变测定中还需要表面的平滑化，因此为了进行观察而需要对样品表面进行加工。因此，难以对发生应变的原因进行解析，不能弄清应变的频度、发生应变的原因。

另外，为了从BSE像进行粒径解析，需要将样品放入真空中，这会限制样品形状。

根据专利文献1公开的方法，虽然能以已知的材料为基础来估计磁导率，但不能掌握应变分布状态。因此，期望能简便地大范围测定应变分布。

发明内容

本发明的目的在于，在图像取得系统中，简便地大范围测定应变分布。

本发明的一个方案的图像取得系统具有信号处理部，取得包含磁性体的样品的图像，所述图像取得系统的特征在于，所述信号处理部执行以下处理：使用成为基准的基准外部磁场，照射光来取得成为基准的所述样品的基准磁畴图像，在使外部磁场在变化的同时进行施加的状态下取得多个磁畴图像，取得从多个所述磁畴图像分别扣除所述基准磁畴图像的多个扣除图像，从多个所述扣除图像分别提取磁畴翻转的磁畴翻转区域，通过将分别具有所述磁畴翻转区域的多个所述扣除图像合成，来取得具有多个所述磁畴翻转区域的合成图像。