[发明专利]一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法有效

专利信息
申请号: 202011109754.2 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN112117520B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 廖斌 申请(专利权)人: 廖斌
主分类号: H01P11/00 分类号: H01P11/00
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 张梦泽
地址: 519080 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 陶瓷滤波器 沉积 方法
【权利要求书】:

1.一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法,其特征在于,所述方法包括:

在陶瓷基体表面沉积第一致密层;

所述在陶瓷基体表面沉积第一致密层具体包括:

采用高功率脉冲偏压技术在陶瓷基体表面沉积第一致密层,脉冲偏压为10-50kv,起弧电流为20-100A,所述第一致密层的沉积厚度为1-100nm,膜层为Ag或Au;

在所述第一致密层表面沉积第一银层;所述第一银层的沉积厚度为1-3μm;

在所述第一致密层表面沉积第一银层具体包括:

采用多弧技术在所述第一致密层表面沉积第一银层,起弧电流为30-90A;

在所述第一银层表面沉积金属层;

在所述第一银层表面沉积金属层具体包括:

采用磁控溅射技术在所述第一银层表面沉积金属层;

在所述金属层表面沉积第二银层;所述第二银层的沉积厚度为1-3μm;

在所述金属层表面沉积第二银层具体包括:

采用多弧技术在所述金属层表面沉积第二银层,起弧电流为30-90A;

在所述第二银层表面沉积第二致密层;

在所述第二银层表面沉积第二致密层具体包括:

采用高功率脉冲偏压技术在所述第二银层表面沉积第二致密层,脉冲偏压为10-50kv,起弧电流为20-100A,所述第二致密层的沉积厚度为1-100nm,膜层为Ag或Au;

整体膜层的厚度在6-14μm,所述第一银层和所述第二银层的总厚度小于等于膜总厚度的1/2。

2.根据权利要求1所述的一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法,其特征在于,所述金属层为Cu、Ti、Cr、Al中的一种,沉积厚度为4-8μm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于廖斌,未经廖斌许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011109754.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top