[发明专利]一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法有效
申请号: | 202011109754.2 | 申请日: | 2020-10-16 |
公开(公告)号: | CN112117520B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 廖斌 | 申请(专利权)人: | 廖斌 |
主分类号: | H01P11/00 | 分类号: | H01P11/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 张梦泽 |
地址: | 519080 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 陶瓷滤波器 沉积 方法 | ||
1.一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法,其特征在于,所述方法包括:
在陶瓷基体表面沉积第一致密层;
所述在陶瓷基体表面沉积第一致密层具体包括:
采用高功率脉冲偏压技术在陶瓷基体表面沉积第一致密层,脉冲偏压为10-50kv,起弧电流为20-100A,所述第一致密层的沉积厚度为1-100nm,膜层为Ag或Au;
在所述第一致密层表面沉积第一银层;所述第一银层的沉积厚度为1-3μm;
在所述第一致密层表面沉积第一银层具体包括:
采用多弧技术在所述第一致密层表面沉积第一银层,起弧电流为30-90A;
在所述第一银层表面沉积金属层;
在所述第一银层表面沉积金属层具体包括:
采用磁控溅射技术在所述第一银层表面沉积金属层;
在所述金属层表面沉积第二银层;所述第二银层的沉积厚度为1-3μm;
在所述金属层表面沉积第二银层具体包括:
采用多弧技术在所述金属层表面沉积第二银层,起弧电流为30-90A;
在所述第二银层表面沉积第二致密层;
在所述第二银层表面沉积第二致密层具体包括:
采用高功率脉冲偏压技术在所述第二银层表面沉积第二致密层,脉冲偏压为10-50kv,起弧电流为20-100A,所述第二致密层的沉积厚度为1-100nm,膜层为Ag或Au;
整体膜层的厚度在6-14μm,所述第一银层和所述第二银层的总厚度小于等于膜总厚度的1/2。
2.根据权利要求1所述的一种5G陶瓷滤波器膜层沉积方法,其特征在于,所述金属层为Cu、Ti、Cr、Al中的一种,沉积厚度为4-8μm。
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