[发明专利]用于确定放射性探测器参数的方法

说明书

本发明的实施例提供了一种用于确定放射性探测器参数的方法，通过测量获取实际测量过程中探测器与标准点源之间的实际距离，并基于测量获取的实际距离进行蒙特卡罗计算，使的模拟测量方案的参数与实际测量的参数保持一致，降低实际测量过程中由于粗略调节带来的误差，提高确定的探测器参数的准确度。

技术领域

本发明涉及放射性测量技术领域，具体涉及一种用于确定放射性探测器参数的方法。

背景技术

在放射性探测领域，探测器的测量准确度与其内部的各种参数有关，例如，冷指的几何形状与尺寸，探测器晶体的类型和死层厚度等，但相关参数会随着使用环境和时间而发生变化，因此，在采用探测器进行定量测量分析时，为保证测量准确度，通常需要在使用前对探测器参数进行确定。现有技术中，对于探测器参数的确定通常采用测量和计算分离的方法进行，这种方式在计算结果的精度上会有所限制，并且效率较低。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的用于确定放射性探测器参数的方法。

根据本发明的实施例，提供了一种用于确定放射性探测器参数的方法，包括：

用所述探测器进行实际测量，选择标准点源，将所述标准点源和所述探测器间隔放置，获取所述探测器对所述标准点源的探测效率，并测量所述标准点源与所述探测器之间的距离，获得实际测量的探测效率、所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的实际距离一一对应的数据。

制定所述探测器的模拟测量方案，其中，所述模拟测量方案包括所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的距离，其与实际测量中获得的所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的实际距离一致，设定探测器参数。

基于模拟测量方案进行模拟测量，使用蒙特卡罗方法，获取所述模拟测量的探测效率，将其与实际测量获得的探测效率进行比较，当两者相等时，在所述模拟测量方案中设定的探测器参数即为所述探测器参数。

可选地，在利用所述探测器进行实际测量步骤前还包括：制定所述探测器的前置模拟测量方案，其中，所述前置模拟测量方案通过改变探测器参数的值、改变放射源能量的值以及改变探测器与放射源之间的距离的值获得多次前置模拟测量方案；基于所述多次前置模拟测量方案进行多次前置模拟测量，利用蒙特卡罗方法，获得每次前置模拟测量方案的探测效率，其中，所述前置模拟测量方案的探测效率与探测器参数、放射源能量以及探测器与放射源之间的距离一一对应。

可选地，在基于多次前置模拟测量方案进行多次前置模拟测量，利用蒙特卡罗方法，获得每次前置模拟测量方案的探测效率步骤之后，在用所述探测器进行实际测量步骤之前还包括：制定所述探测器的实际测量方案，其中，所述实际测量方案中所选用的标准点源通过如下方式获得：比较所述前置模拟测量方案的探测效率，选择对探测器参数变化敏感的放射源能量，基于选择的放射源能量选择所述标准点源，使所述标准点源的特征伽玛射线能量等于选择的放射源能量，形成实际测量方案。

可选地，比较所述前置模拟测量方案的探测效率，当探测效率随着探测器参数的变化幅度大于第一设定阈值时，判定放射源能量对探测器参数的变化敏感。

可选地，将所述标准点源和所述探测器间隔放置的步骤包括：比较具有相同放射源能量的所述前置模拟测量方案的探测效率，当探测效率随着探测器参数的变化幅度大于第二设定阈值时，判定探测器与放射源之间的距离对探测器参数的变化敏感，选择对探测器参数的变化敏感的探测器与放射源之间的距离，确定所述标准点源和/或所述探测器的预设位置；向所述预设位置移动所述标准点源和/或所述探测器。

可选地，所述方法还包括验证步骤：