[发明专利]用于确定放射性探测器参数的方法

权利要求书

1.一种用于确定放射性探测器参数的方法，其中，

用所述探测器进行实际测量，选择标准点源，将所述标准点源和所述探测器间隔放置，获取所述探测器对所述标准点源的探测效率，并测量所述标准点源与所述探测器之间的距离，获得实际测量的探测效率、所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的实际距离一一对应的数据；

制定所述探测器的模拟测量方案，其中，所述模拟测量方案包括所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的距离，其与实际测量中获得的所述标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与标准点源之间的实际距离一致，设定探测器参数；

基于模拟测量方案进行模拟测量，使用蒙特卡罗方法，获取所述模拟测量的探测效率，将其与实际测量获得的探测效率进行比较，当两者相等时，在所述模拟测量方案中设定的探测器参数即为所述探测器参数；其中，在利用所述探测器进行实际测量步骤前还包括：

制定所述探测器的前置模拟测量方案，其中，所述前置模拟测量方案通过改变探测器参数的值、改变放射源能量的值以及改变探测器与放射源之间的距离的值获得多次前置模拟测量方案；

基于所述多次前置模拟测量方案进行多次前置模拟测量，利用蒙特卡罗方法，获得每次前置模拟测量方案的探测效率，其中，所述前置模拟测量方案的探测效率与探测器参数、放射源能量以及探测器与放射源之间的距离一一对应。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在基于多次前置模拟测量方案进行多次前置模拟测量，利用蒙特卡罗方法，获得每次前置模拟测量方案的探测效率步骤之后，在用所述探测器进行实际测量步骤之前还包括：

制定所述探测器的实际测量方案，其中，所述实际测量方案中所选用的标准点源通过如下方式获得：比较所述前置模拟测量方案的探测效率，选择对探测器参数变化敏感的放射源能量，基于选择的放射源能量选择所述标准点源，使所述标准点源的特征伽玛射线能量等于选择的放射源能量，形成实际测量方案。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，比较所述前置模拟测量方案的探测效率，当探测效率随着探测器参数的变化幅度大于第一设定阈值时，判定放射源能量对探测器参数的变化敏感。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，将所述标准点源和所述探测器间隔放置的步骤包括：

比较具有相同放射源能量的所述前置模拟测量方案的探测效率，当探测效率随着探测器参数的变化幅度大于第二设定阈值时，判定探测器与放射源之间的距离对探测器参数的变化敏感，选择对探测器参数的变化敏感的探测器与放射源之间的距离，确定所述标准点源和/或所述探测器的预设位置；

向所述预设位置移动所述标准点源和/或所述探测器。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括验证步骤：

用所述探测器进行验证实际测量，选择另一标准点源，将所述另一标准点源与所述探测器间隔放置，使用所述探测器对所述另一标准点源的放射性进行测量，获取所述探测器对所述另一标准点源的探测效率，并测量所述另一标准点源与所述探测器的实际距离，获得验证实际测量的探测效率、所述另一标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与另一标准点源之间的实际距离一一对应的数据；

制定所述探测器的验证模拟测量方案，其中，所述验证模拟测量方案包括所述探测器参数、所述另一标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与另一标准点源的距离，其与所述验证实际测量方案中获得所述另一标准点源的特征伽玛射线能量以及探测器与另一标准点源的距离一致；

基于所述验证模拟测量方案进行验证模拟测量，使用蒙特卡罗方法，获取所述验证模拟测量方案的探测效率，将其与验证实际测量方案中获得的探测器效率进行比较，当两者差值小于第三设定阈值时，判断所述探测器参数通过验证。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，还包括对所述探测器的探测器参数的再次确定，包括：重复所述方法的步骤，其中，所述前置模拟测量方案中探测器参数的值为所述验证步骤中通过验证的所述探测器参数基于时间的增大。