[发明专利]一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

说明书

本发明提供了一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质，属于计算机存储系统的技术领域，该计算机存储系统性能测试方法包括：根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；计算每个带宽拓扑节点的性能最高值，和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。

技术领域

本发明涉及计算机存储系统技术领域，尤其是涉及一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质。

背景技术

伴随着互联网的快速发展，云计算技术的不断兴起，网上业务量不断增加。面对服务器技术变革日新月异的变化，如何提高存储系统的性能一直以来都是重要技术难题，性能是评价一个存储系统的关键因素。理解性能测试的方法、计算测试结果的合理性、掌握必要的整改方法是解决性能问题的关键，体现存储系统性能优劣的参数主要有两个：带宽(Throughout)和IOPS。带宽用于衡量存储系统处理顺序读写大数据块的IO(16KB以上)能力，单位是MB/s，带宽越高，性能越好；IOPS用于衡量存储系统处理随机读写小数据块的IO(16KB以下)能力，即每秒进行读写(I/O)操作的次数，IOPS越高，代表存储系统处理IO的能力越强，同时，性能测试是针对特定设备或者特定拓扑的测试。测试特定部件性能时，应保证系统中其他设备的带宽等性能优于该测试设备，确保该测试设备是唯一瓶颈，以测试出设备的最大性能；测试系统性能时，应保证所有接口和部件工作在最佳状态，以便测量出整个系统的极限性能值，并且找到限制性能的瓶颈点，而言之，性能测试不是单一部件的测试，而是整个存储系统的综合能力测试。受限于此,针对性能测试的方法千差万别，但是却少有针对存储拓扑下对性能的理论计算方法。

传统的存储系统性能测试搭建简单的经验数据库或者数学模型方案，依赖测试人员的经验数据，或者已有的测试数据库的经验积累，没有分析拓扑下设备的性能参数和链路关系，导致：

1、灵活性差。当前模型只针对特定的某个拓扑或者某几种拓扑才有效，换成其他拓扑，需要根据实测结果重新搭建数学模型。

2、精确度不高。当存储系统下设备变更时，如硬盘由HDD变为SSD，即使拓扑一致，但是结果变化很大。

3、验证成本高。需要覆盖多种配置、多种拓扑下的性能测试，提供充分的实测数据，才能验证数据的正确

为此本文提出一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质。

发明内容

本发明的目的在于提供一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质，以缓解了现有技术中存在的灵活性差，精确度不高和验证成本高的技术问题。

第一方面，本发明提供的一种计算机存储系统性能测试方法，包括：

根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；

获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；

基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；

基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；

将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；

基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。

进一步的，基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点的步骤，包括：