[发明专利]一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质在审
| 申请号： | 202011090549.6 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN112269696A | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 于泉泉;王鹏;王焕超;刘闻禹;孙珑玲;闫玉婕 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 张晓冬 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 计算机 存储系统 性能 测试 装置 方法 及其 存储 介质 | ||
1.一种计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，包括：
根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；
基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；
将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
2.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式BWBottleneck＝Minimum(BWNode1,BWNode2,...,BWNodeN)计算带宽瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，BWBottleneck为带宽瓶颈节点的性能最高值，BWNodei为每个带宽拓扑节点的带宽最高值。
3.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式IOPSBottleneck＝Minimum(IOPSNode1，IOPSNode2，...，IOPSNodeN)计算IOPS瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，IOPSBottleneck为IOPS瓶颈节点的性能最高值，IOPSNodei为每个IOPS拓扑节点的IOPS最高值。
4.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点作为IOPS瓶颈节点。
5.根据权利要求4所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点系统性能最高值的步骤，包括：
通过算式LatencyBottleneck＝Sum(LatencyNode1,LatencyNode2,...,LatencyNodeN)计算系统总延时LatencyBottleneck；其中，LatencyNodei为每个IOPS拓扑节点的延时最高值；
通过算式计算单盘瓶颈节点的性能最高值IOPSBottleneck；其中，Latencydisk为单盘延时，IOPSdisk为单盘IOPS最高值。
6.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值的步骤，包括：
将带宽瓶颈节点与IOPS瓶颈节点中较低的性能最高值作为系统性能最高值。
7.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果的步骤之后，还包括：
将所述测试结果与实测结果进行对比；
若对比差值超出预设值，则调节拓扑节点的配置参数，并返回计算每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值的步骤。
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