[发明专利]一种移位饱和同步处理的方法及其应用

说明书

本发明公开了一种移位饱和同步处理的方法及其应用，步骤如下：产生移位MASK，移位后溢出位的选择信号产生，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；使用选择信号选择待移位的数据，如选择信号中某一位的MASK为1，则选取待移位的数据中的对应结果，反之则输出待移位数据的最高位；检测以上所得所有结果和待移位的数据的最高位，如待移位的数据的最高位为0时以上所得所有结果全为0，或者待移位的数据的最高位为1时以上所得所有结果全为1，则移位无溢出，反之则移位溢出。本发明的方法，逻辑清晰，步序简单，实现了移位与饱和判断的同步进行，提高了移位运行效率，极具应用前景。

技术领域

本发明属于数据处理技术领域，特别涉及一种数据运算中的移位饱和同步处理的方法及其应用。

背景技术

在有符号的数据运算中，最高位(MSB)代表正负关系，当MSB为0时表明是正数，当MSB为1时表明是负数。在左移位操作中，可能会出现一个正数移位结果为负数，或一个负数移位结果为正数。在许多应用场合这是不允许的，这种情况下就会进行饱和操作，当一个正数移位结果为负数时，经过饱和处理结果为最大正数(即最高位为0，其他位为1)；当一个负数移位结果为正数时，经过饱和处理结果为最小负数(即最高位为1，其他位为0)。

通常情况下饱和判断需要在移位结果出来后才能进行，虽然其能够完成移位饱和处理，但这种处理模式极大地影响了数据处理(移位运行)效率。

因此，开发一种能够在移位的同时完成饱和判断的方法对于电脑处理器或控制芯片的底层运算极具现实意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术饱和判断需要在移位结果出来后才能进行，影响移位运行效率的缺陷，提供一种能够在移位的同时完成饱和判断的方法。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种移位饱和同步处理的方法，应用于电子设备，其步骤如下：

(1)移位MASK的产生：

移位后溢出位的选择信号产生，将移位溢出对应的位标记为1，其他位置标记为0；由于只有移出的位和结果的最高位影响饱和判断，该逻辑用于产生移位后移出位的选择信号，移出的对应的位为1，其他位为0，作为后续选择的控制，如当移位量为1时，只有最高位移出，则生成的MASK的值为 1000_0000…0000_0000(最高位为1，其余位为0)，依次类推；

(2)数据选择：

使用所述选择信号选择待移位的数据，如选择信号中某一位的MASK为 1，则表明饱和位需要用该位进行判断，选取待移位的数据中的对应结果，反之(MASK为0)则表明该位与判断无关，输出待移位数据的最高位，这样输出的结果只包含影响饱和判断的位和MSB位；(影响饱和的位为移出位和移位结果的最高有效位，移位结果的最高有效位也就是移出位的下一位)

(3)饱和检测：

检测步骤(2)所得所有结果和待移位的数据的最高位，如待移位的数据的最高位为0时步骤(2)所得所有结果全为0(正饱和判断)，或者待移位的数据的最高位为1时步骤(2)所得所有结果全为1(负饱和判断)，则移位无溢出，反之则移位溢出。

本发明提出一种使用移位输入数据产生饱和标志的方法，其将待移位数据移位后会产生溢出的位选出来，判断当待移位的数据的最高位为0时步骤 (2)所得所有结果是否全为0，或者当待移位的数据的最高位为1时步骤(2) 所得所有结果是否全为1，如果是，说明没有溢出，也就无需饱和处理；如果否，那么说明有溢出，需要饱和处理，就产生饱和标志，实现过程简单，进而实现了移位与饱和判断的同步进行，相比于现有技术需要在移位结果出来后进行饱和判断，能够大大提高移位运行效率，能够极大地提高运算处理的效率，极具应用前景。

作为优选的技术方案：