[发明专利]一种位置校准方法、装置和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种位置校准方法，其特征在于，包括：

分别对离线仿真软件中仿真工件的表面与真实环境中真实工件的表面进行采样，得到多个仿真采样点与多个真实采样点；

分别对所有所述仿真采样点与所述真实采样点进行处理，得到至少一个仿真最近点与至少一个真实最近点；

利用所述至少一个仿真最近点、所述至少一个真实最近点、多个所述仿真采样点以及多个所述真实采样点，对多个所述仿真采样点进行更新，得到相应的更新点；

对所述仿真工件的位置进行调整，以使得所述仿真采样点的位置与相应的所述更新点的位置相同。

2.根据权利要求1所述的位置校准方法，其特征在于，

所述多个仿真采样点的数量为预设数量，所述多个仿真采样点形成多条仿真线段，且所述多条仿真线段不平行；所述多个真实采样点的数量为所述预设数量，所述多个真实采样点形成多条真实线段，且所述多条真实线段不平行；所述仿真最近点为与所述多条仿真线段的距离之和最小的点，所述真实最近点为与所述多条真实线段的距离之和最小的点。

3.根据权利要求2所述的位置校准方法，其特征在于，

所述多个仿真采样点包括第一仿真采样点与第二仿真采样点，且所述第一仿真采样点所在的仿真线段与所述第二仿真采样点所在的仿真线段交叉；所述多个真实采样点包括第一真实采样点与第二真实采样点，且所述第一真实采样点所在的仿真线段与所述第二真实采样点所在的仿真线段交叉。

4.根据权利要求3所述的位置校准方法，其特征在于，所述利用所述至少一个仿真最近点、所述至少一个真实最近点、多个所述仿真采样点以及多个所述真实采样点，对多个所述仿真采样点进行更新，得到相应的更新点的步骤，包括：

利用所述第一真实采样点的坐标值与所述真实最近点的坐标值对所述第一仿真采样点的位置进行更新，得到第一更新点；

利用所述第二真实采样点的坐标值与所述真实最近点的坐标值对所述第二仿真采样点的位置进行更新，得到第二更新点。

5.根据权利要求4所述的位置校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

分别计算所述仿真最近点与所述第一仿真采样点以及所述第二仿真采样点之间的距离，得到第一仿真距离与第二仿真距离；

分别计算所述真实最近点与所述第一真实采样点以及所述第二真实采样点之间的距离，得到第一真实距离与第二真实距离；

利用所述第一仿真距离、所述第一真实距离、所述第一真实采样点的坐标值以及所述真实最近点的坐标值，计算所述第一更新点的坐标值；

利用所述第二仿真距离、所述第二真实距离、所述第二真实采样点的坐标值以及所述真实最近点的坐标值，计算所述第二更新点的坐标值。

6.根据权利要求5所述的位置校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

分别计算所述第一仿真距离与所述第一真实距离之间的比值以及所述第二仿真距离与所述第二真实距离之间的比值，得到第一比值与第二比值；

利用所述第一比值、所述第一真实采样点的坐标值以及所述真实最近点的坐标值，生成所述第一更新点的坐标值；

利用所述第二比值、所述第二真实采样点的坐标值以及所述真实最近点的坐标值，生成所述第二更新点的坐标值。

7.根据权利要求6所述的位置校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述第一真实采样点与所述真实最近点之间的坐标差值，记作第一坐标差值；

利用所述第一坐标差值、所述第一比值以及所述真实最近点的坐标值，计算出所述第一更新点的坐标值；

将所述第二真实采样点与所述真实最近点之间的坐标差值，记作第二坐标差值；

利用所述第二坐标差值、所述第二比值以及所述真实最近点的坐标值，计算出所述第二更新点的坐标值。