[发明专利]测试方法和装置

权利要求书

1.一种测试方法，应用于对目标芯片的测试中，其特征在于，包括：

获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；

分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；

根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量；

采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到目标测试向量之前，所述方法还包括：

分别从所述每个测试向量的端口信息中提取非扫描端口信息；其中，所述非扫描端口信息和所述扫描端口信息不同；

对所述非扫描端口信息进行格式转换，或者，对所述非扫描端口信息进行压缩和格式转换。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，任意一所述测试向量中包括逻辑功能的输入输出状态的描述信息；分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息和非扫描端口信息的方法，包括：

针对任意一测试向量，根据该测试向量的所述描述信息，从该测试向量的端口信息中提取扫描端口信息和非扫描端口信息。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试，包括：

将所述目标测试向量输入所述目标芯片，得到输出结果；

将所述输出结果与预期结果进行比较，获取比较结果；

根据所述比较结果，判断所述目标芯片是否合格。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息之前，所述方法还包括：

根据功能描述符，分别对每个测试向量进行拆分，获取每个测试向量配置部分和测试端口信息；

分别对每一个测试向量的配置部分进行修改；

根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量，包括：

针对任意一测试向量，将该测试向量修改后的配置部分，以及该测试向量压缩和格式转换后的扫描端口信息进行重构后，得到该测试向量对应的目标测试向量。

6.一种测试装置，应用于对目标芯片的测试中，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；

提取模块，用于分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；

处理模块，用于根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量；

测试模块，用于采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述提取模块还用于：在得到目标测试向量之前，分别从所述每个测试向量的端口信息中提取非扫描端口信息；其中，所述非扫描端口信息和所述扫描端口信息不同；

所述处理模块具体用于对所述非扫描端口信息进行格式转换，或者，对所述非扫描端口信息进行压缩和格式转换。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，任意一所述测试向量中包括逻辑功能的输入输出状态的描述信息；所述提取模块具体用于：

针对任意一测试向量，根据该测试向量的所述描述信息，从该测试向量的端口信息中提取扫描端口信息和非扫描端口信息。

9.根据权利要求6-8任一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块具体用于：

将所述目标测试向量输入所述目标芯片，得到输出结果；

将所述输出结果与预期结果进行比较，获取比较结果；

根据所述比较结果，判断所述目标芯片是否合格。

10.根据权利要求6-9任一项所述的测试装置，其特征在于，所述获取模块还用于：

在分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息之前，根据功能描述符，分别对每个测试向量进行拆分，获取每个测试向量配置部分和测试端口信息；

分别对每一个测试向量的配置部分进行修改；

所述处理模块还用于：

针对任意一测试向量，将该测试向量修改后的配置部分，以及该测试向量压缩和格式转换后的扫描端口信息进行重构后，得到该测试向量对应的目标测试向量。