[发明专利]空隙检测方法及装置

说明书

本申请提供一种空隙检测方法及装置。本申请中，空隙检测方法，应用于空隙检测装置，空隙检测装置包括N个感光芯片，N个感光芯片沿第一方向排列，N为大于1的整数，所述方法，包括：获取N个感光芯片采集的N个第一光强值；比较N个第一光强值，获取N个第一光强值中最大的M个第一光强值；M为正整数；确定采集最大的M个第一光强值的M个感光芯片的第一位置信息；根据M个感光芯片的第一位置信息获取空隙的第二位置信息。本申请的实施例，可以提高空隙检测的精度，同时，可以降低空隙检测的成本。

技术领域

本申请涉及物流检测技术领域，特别涉及一种空隙检测方法及装置。

背景技术

相关技术中，可以使用图像传感器进行空隙检测，但是造价比较高，而且后期图形处理比较麻烦。另外，也可以通过相对设置的激光发射管、激光接收管(简称激光对管)进行空隙检测，造价比较低，但是由于激光发射管、激光接收管间隔一般大于2厘米，检测结果精度不高。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种空隙检测方法及装置，可以提高空隙检测的精度，同时可以降低空隙检测的成本。

本申请实施例提供了一种空隙检测方法，应用于空隙检测装置，所述空隙检测装置包括N个感光芯片，所述N个感光芯片沿第一方向排列，N为大于1的整数，所述方法，包括：

获取所述N个感光芯片采集的N个第一光强值；

比较所述N个第一光强值，获取所述N个第一光强值中最大的M个第一光强值；M为正整数；

确定采集所述最大的M个第一光强值的M个感光芯片的第一位置信息；

根据所述M个感光芯片的第一位置信息获取空隙的第二位置信息。

在一个实施例中，N大于2；所述比较所述N个第一光强值，获取所述N个第一光强值中最大的M个第一光强值，包括：

按照所述N个感光芯片的排列顺序，从首个感光芯片采集的第一光强值开始，依次以从首个感光芯片采集的第一光强值至第N-L+1个感光芯片采集的第一光强值为首，每次获取相邻的L个第一光强值进行比较，得到至少一个最大的第一光强值；L小于N；

当所述N个第一光强值比较完毕后，获得所述N个第一光强值中最大的M个第一光强值。

在一个实施例中，所述根据所述M个感光芯片的第一位置信息获取空隙的第二位置信息，包括：

获取所述最大的M个第一光强值中位置相邻的两个感光芯片采集的两个第一光强值；

获取所述两个第一光强值的第一比值；

根据所述第一比值以及所述位置相邻的两个感光芯片的第一位置信息获取空隙的第二位置信息。

在一个实施例中，所述感光芯片包括发光元件；所述比较所述N个第一光强值之后，还包括：

当所述N个第一光强值相同时，开启所述发光件；

获取所述N个感光芯片采集的N个第二光强值；

比较所述N个第二光强值，获取所述N个第二光强值中最小的M个第二光强值；

确定采集所述最小的M个第二光强值的M个感光芯片的第三位置信息；

根据所述M个感光芯片的第三位置信息获取空隙的第二位置信息。

在一个实施例中，N大于2；所述比较所述N个第二光强值，获取所述N个第二光强值中最小的M个第二光强值，包括：