[发明专利]单通道高速高精度SAR ADC的数字后台自校准电路结构及方法有效
| 申请号: | 202011060598.5 | 申请日: | 2020-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN112290945B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 朱樟明;梁宇华;郑子瑞;丁瑞雪;刘术彬;李登全 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
| 地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通道 高速 高精度 sar adc 数字 后台 校准 电路 结构 方法 | ||
1.一种单通道高速高精度SAR ADC的数字后台自校准电路结构,其特征在于,包括:自举开关模块、电容阵列模块、比较器模块、寄存器模块、SAR逻辑控制模块和数字校准模块,所述自举开关模块、所述电容阵列模块、所述比较器模块、所述寄存器模块和所述数字校准模块依次连接,所述SAR逻辑控制模块连接在所述电容阵列模块的P端和N端的底极板与所述比较器模块的输出端之间,其中,
所述自举开关模块,包括开关SN和开关SP,SN用来控制所述电容阵列模块的N端的VIN输入信号的传输,SP用来控制电容阵列模块的P端的VIP输入信号的传输,VIN输入信号和VIP输入信号为差分输入信号;
所述电容阵列模块,用来获取误差电压,并将所述VIN输入信号采样到所述电容阵列模块上得到N端采样信号、将所述VIP输入信号采样到所述电容阵列模块上得到P端采样信号;
所述比较器模块,用来对所述N端采样信号和所述P端采样信号的电压进行比较,若所述N端采样信号的电压大于所述P端采样信号的电压,则所述比较器模块的输出结果为低电平,若所述N端采样信号的电压小于所述P端采样信号的电压,则所述比较器模块的输出结果为高电平;所述比较器模块,包括:预放大器和锁存器;
所述寄存器模块,用来存储通过所述误差电压得到的所述电容阵列模块的实际权重;
所述SAR逻辑控制模块,用来根据所述输出结果控制所述电容阵列模块的开关端连接VREF端、VCM端或GND端,当所述电容阵列模块P端和N端的顶极板接VCM端,待误差提取位的底极板连接GND端,高于待误差提取位电容的底极板和电容阵列模块N端连接GND端,低于待误差提取位电容的底极板连接接VREF端,然后,将电容阵列模块的顶极板与VCM端断开,待误差提取位的底极板连接VREF端,低于待误差提取位的底极板和电容阵列模块的N端均接GND端,高于待误差提取位底极板电压的底极板连接GND端;
所述数字校准模块,用来对所述比较器模块的输出结果进行累加、相乘和相加运算中的一种或多种目标运算,得到所述电容阵列模块的误差权重和实际权重;所述数字校准模块包括:第一乘法器(11)、第一累加器(12)、第一加法器(13)、电容阵列实际权重模块(14)、第二乘法器(15)、第二累加器(16)、LSB-DAC理想权重模块(17)和电容阵列理想权重模块(18),其中,所述第一乘法器(11)、所述第一累加器(12)、所述第一加法器(13)、所述电容阵列实际权重模块(14)、所述第二乘法器(15)和所述第二累加器(16)依次连接,所述LSB-DAC理想权重模块(17)连接在所述第一乘法器(11)的输入端,所述电容阵列理想权重模块(18)连接在所述第一加法器(13)的输入端。
2.根据权利要求1所述的单通道高速高精度SAR ADC的数字后台自校准电路结构,其特征在于,所述电容阵列模块包括第一电容阵列(MSB-DAC)、第二电容阵列(LSB-DAC)、第一电容(CSP)和第二电容(CSN),其中,
所述第一电容阵列(MSB-DAC)的P端通过所述第一电容(CSP)与所述第二电容阵列(LSB-DAC)的P端连接,所述第一电容阵列(MSB-DAC)的N端通过所述第二电容(CSN)与所述第二电容阵列(LSB-DAC)的N端连接。
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