[发明专利]功能外观一体测试设备

说明书

本发明提供了一种功能外观一体测试设备，包括：料盘入料机构；功能测试机构，用于对产品进行功能测试；测试抓取机构，用于抓取产品并移动至功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构；外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；良品出料机构；补料抓取机构，用于将不良品移动至不良品放置机构，并装填良品；补料传输机构，为补料抓取机构提供良品；以及不良品放置机构，用于放置不良品。本发明提供的功能外观一体测试设备，既可以对产品进行功能测试，也可以对产品进行外观测试，可以简化测试过程，无需人工在两台设备之间搬运料盘，从而提高测试效率、减小人力投入。

技术领域

本发明属于芯片测试技术领域，更具体地说，是涉及一种功能外观一体测试设备。

背景技术

在芯片出货之前，需要对芯片进行功能测试和外观测试，保证出货质量。电性测试、高压测试等功能测试采用功能测试设备完成，外观测试采用外观测试设备完成。两种测试设备分别对芯片进行工艺测试，导致测试过程繁琐、测试时间较长、人力投入也较大。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种功能外观一体测试设备，以解决现有技术中存在的采用两种测试设备对芯片进行测试，导致测试过程繁琐、测试时间长、人力投入大的技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种功能外观一体测试设备，包括：

料盘入料机构，用于运输装载有待检测产品的料盘，所述料盘入料机构的传输方向沿Y轴设置；

功能测试机构，用于对产品进行功能测试；

测试抓取机构，用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构以及将检测完成的不良品移动至不良品放置机构；

外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；

良品出料机构，用于运输装载有良品的料盘，所述良品出料机构的传输方向沿Y轴设置；

补料抓取机构，用于将所述良品出料机构中外观不良和放置方向错误的产品移动至所述不良品放置机构，并装填良品；

补料传输机构，为所述补料抓取机构提供良品；以及

不良品放置机构，用于放置功能不良品、外观不良和放置方向错误的产品。

在一个实施例中，所述料盘入料机构、所述功能测试机构、所述良品出料机构、所述不良品放置机构沿X轴方向依次排列设置。

在一个实施例中，所述补料传输机构的传输方向沿Y轴设置，且所述补料传输机构设于所述功能测试机构和所述良品出料机构之间。

在一个实施例中，所述测试抓取机构包括第一X轴移动模组、连接于所述第一X轴移动模组的第一Z轴移动模组、连接于所述第一Z轴移动模组的第一抓料组件、第二X轴移动模组、连接于所述第二X轴移动模组的第二Z轴移动模组、连接于所述第二Z轴移动模组的第二抓料组件，所述第一抓料组件用于从所述料盘入料机构上的料盘中抓取产品并移动至所述功能测试机构，所述第二抓料组件用于将检测完成的良品移动至所述良品出料机构以及将检测出的不良品移动至所述不良品放置机构。

在一个实施例中，所述补料抓取机构包括第三X轴移动模组、连接于所述第三X轴移动模组的第三Z轴移动模组以及连接于所述第三Z轴移动模组的第三抓料组件。

在一个实施例中，所述功能外观一体测试设备还包括工作底板以及固定于所述工作底板上的工作支架，所述料盘入料机构、所述功能测试机构、所述补料传输机构、所述良品出料机构以及所述不良品放置机构均固定于所述工作底板上，所述第一X轴移动模组、所述第二X轴移动模组、所述第三X轴移动模组及所述外观测试机构均固定于所述工作支架上。