[发明专利]一种SOC芯片自动化QC方法及装置

说明书

本发明提供一种SOC芯片自动化QC方法及装置，其中，所述装置包括QC母板，所述QC母板包括PMU电源、MCU主控制器、SOCKET座子、QC子板、组合开关、TEST按键、DEBUG按键、功能模块、结果显示模块；所述方法在所述装置上实现，包括如下内容：MCU主控制器通过SWD总线与待测SOC芯片连接，然后读取预先烧录在SOC芯片中的CHIPID；根据所述CHIPID，MCU主控制器按照设定的优先级顺序将需要的QC代码加载到待测SOC芯片中并控制其进行功能测试；如果测试通过，则结果显示模块显示PASS信息，如果测试不通过，则结果显示模块显示FAIL信息；当出现FAIL时，MCU主控制器还能够对待测SOC芯片进行DEBUG，以快速定位故障位置。本发明提出一种SOC芯片自动化QC方法及装置可以实现快速的SOC芯片自动化测试，有效地缩短测试时间，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及SOC芯片测试领域，具体涉及一种SOC芯片自动化QC方法及装置。

背景技术

在出货前，SOC芯片通常都需要根据应用场景进行功能测试，在保证没有功能问题后才可交付给客户。若要100%保证给客户的芯片没有质量问题，测试时必须尽可能覆盖到所有的电路功能。但SOC芯片内部功能模块众多，各种电路功能有差异必然造成测试方法和测试条件各异，如果在QC（Quality Control）大量SOC时一个一个地根据各个功能电路特性建立条件环境测试，不仅QC效率低，而且容易人为操作出错。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种SOC芯片自动化QC方法及装置，只需一个开始测试按键就可以完成SOC芯片的功能测试，大大提高了芯片的测试效率。本发明的具体技术方案如下：

一种SOC芯片自动化QC装置，包括QC母板，所述QC母板包括PMU电源、MCU主控制器、SOCKET座子、QC子板、组合开关、TEST按键、DEBUG按键、功能模块、结果显示模块，其中，PMU电源，与MCU主控制器和电流测试单元连接，用于整个QC母板的供电；MCU主控制器，与PMU电源、组合开关、电流测试单元和QC子板连接，用于控制整个QC过程；SOCKET座子，与QC子板连接和待测SOC芯片连接，用于安装所述待测SOC芯片；QC子板，与MCU主控制器、SOCKET座子和功能模块连接，用于安装所述SOCKET座子；组合开关，与MCU主控制器连接，用于手动输入待测SOC芯片的类型；TEST按键，与MCU主控制器连接，用于启动TEST模式；DEBUG按键，与MCU主控制器连接，用于启动DEBUG模式；功能模块，与QC子板连接，用于测试待测SOC芯片的各项功能；结果显示模块，与MCU主控制器连接，用于显示测试结果。本发明所述的一种SOC芯片自动化QC装置依托MCU主控制器，可以在不连接PC端和其他传统仪器的情况下进行SOC芯片的自动化测试，具有较高的便携性；MCU主控制器可以根据SOC芯片的CHIPID随意调用事先储存的QC代码，无需在测试前花费时间编写所需代码，有效地缩短了测试时间，提高了测试人员的工作效率。

进一步地，所述SOCKET座子安装在QC子板上，所述QC子板安装在QC母板上，SOCKET座子和QC子板均可拆卸。通过更换不同SOCKET座子和QC子板来兼容不同类型的SOC芯片，避免对不同类型的芯片单独开发QC装置，提高了QC装置的利用率。

进一步地，所述组合开关为8位拨码开关，与MCU主控制器的8个IO口连接，通过拨动开关设置高低电平，编码组成8位数据用以代表预先定义好的SOC芯片。允许用户手动设置SOC芯片的CHIPID，以应对MCU主控制器读取不到CHIPID的情况，比较灵活。