[发明专利]吊钩到位检测方法、装置和计算机可读介质在审
| 申请号: | 202011028628.4 | 申请日: | 2020-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN112150544A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
| 发明(设计)人: | 凌杰;肖自立;徐健 | 申请(专利权)人: | 西门子(中国)有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T7/90;G06T7/11;G06T7/00;G06K9/62;G06K9/32;G06T7/62 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100102 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 吊钩 到位 检测 方法 装置 计算机 可读 介质 | ||
1.吊钩到位检测方法,其特征在于,包括:
在吊钩处于第一位置时,获取待检测区域的第一参考图像,其中,所述待检测区域为包含吊耳孔的区域,所述第一位置用于表征所述吊钩在未接收到使吊钩进入吊耳孔的控制指令时的位置;
在所述吊钩处于第二位置时,获取所述待检测区域的第二参考图像,其中,所述第二位置用于表征所述吊钩在执行使吊钩进入吊耳孔的控制指令之后的位置;
将所述第二参考图像与所述第一参考图像进行差分处理,得到差分参考图像;
根据所述吊耳孔在所述第一参考图像中所处的位置,确定在图像中所述吊耳孔所处的目标位置区域;
根据所述差分参考图像中位于所述目标位置区域内的像素点的像素值,确定所述吊钩是否进入所述吊耳孔中。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述差分参考图像中位于所述目标位置区域内的像素点的像素值,确定所述吊钩是否进入所述吊耳孔中,包括:
将所述第二参考图像进行二值化处理,得到第二参考二值化图像;
将所述差分参考图像进行二值化处理,得到差分参考二值化图像;
将所述第二参考二值化图像和所述差分参考二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑运算处理,得到第一目标二值化图像;
根据所述第一目标二值化图像中位于所述目标位置区域内的像素点的像素值,确定所述吊钩是否进入所述吊耳孔中。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一目标二值化图像中位于所述目标位置区域内的像素点的像素值,确定所述吊钩是否进入所述吊耳孔中,包括:
将所述第一参考图像进行二值化处理,得到第一参考二值化图像;
将所述第一参考二值化图像和所述第一目标二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑运算处理,得到第二目标二值化图像;
根据所述第二目标二值化图像中位于所述目标位置区域内的像素点的像素值,确定所述吊钩是否进入所述吊耳孔中。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述第一参考二值化图像和所述第一目标二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑运算处理,得到第二目标二值化图像,包括:
将所述第一参考图像进行聚类处理,得到第一参考前景图像;
将所述第一参考前景图像进行二值化处理,得到第一参考前景二值化图像;
将所述第二参考图像进行聚类处理,得到第二参考前景图像;
将所述第二参考前景图像进行二值化处理,得到第二参考前景二值化图像;
将所述差分参考图像进行聚类处理,得到差分参考前景图像;
将所述差分参考前景图像进行二值化处理,得到差分参考前景二值化图像;
将所述第二参考前景二值化图像和所述差分参考前景二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑与处理,得到第一目标二值化图像;
将所述第一参考前景二值化图像和所述第一目标二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑异或处理,得到第二目标二值化图像。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述第一参考二值化图像和所述第一目标二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑运算处理,得到第二目标二值化图像,包括:
将所述第一参考图像进行聚类处理,得到第一参考背景图像;
将所述第一参考背景图像进行二值化处理,得到第一参考背景二值化图像;
将所述第二参考图像进行聚类处理,得到第二参考前景图像;
将所述第二参考前景图像进行二值化处理,得到第二参考前景二值化图像;
将所述差分参考图像进行聚类处理,得到差分参考前景图像;
将所述差分参考前景图像进行二值化处理,得到差分参考前景二值化图像;
将所述第二参考前景二值化图像和所述差分参考前景二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑与处理,得到第一目标二值化图像;
将所述第一参考背景二值化图像和所述第一目标二值化图像中的所有像素点的像素值进行逻辑与处理,得到第二目标二值化图像。
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