[发明专利]混合自旋转移矩磁性随机存取存储器(H-STT-MRAM)在审
| 申请号: | 202011025687.6 | 申请日: | 2020-09-25 |
| 公开(公告)号: | CN112652339A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
| 发明(设计)人: | 霍素国;张瑞华 | 申请(专利权)人: | 霍素国 |
| 主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16;H01L43/08 |
| 代理公司: | 北京久维律师事务所 11582 | 代理人: | 邢江峰 |
| 地址: | 英国37A埃罗尔花*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 混合 自旋 转移 磁性 随机存取存储器 stt mram | ||
1.一种混合自旋转移矩磁性随机存取存储器(H-STT-MRAM)器件,包括:
由非磁性间隔分离的垂直磁向异性磁性隧道结(pma-MTJ)堆叠和面内磁向异性磁性隧道结(ima-MTJ)堆叠的面对面堆叠,所述非磁性间隔设置在所述两个MTJ的两个自由层之间,并且
其中MTJ包括由MgO隧穿势垒夹层分开的以下各项:
磁性参考层(RL),其磁化被固定在一个方向上;以及
磁性自由层(FL),其磁化可以被旋转成与所述RL固定磁化平行或反平行。
2.根据权利要求1所述的H-MRAM器件,其中所述器件包括:
底部pma-MTJ堆叠,其FL和RL分别直接设置在其MgO隧穿势垒的上方和下方;以及上方的顶部ima-MTJ堆叠,其FL和RL分别直接设置在其MgO隧穿势垒的下方和上方;
非磁性间隔层,其设置在所述底部pma-MTJ堆叠和所述顶部ima-MTJ堆叠中的所述两个FL之间。
3.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述设备进一步包括
底部ima-MTJ堆叠,其FL和RL直接设置在其MgO隧道势垒上方和下方;
顶部pma-MTJ堆叠,FL和RL直接设置在其MgO隧道势垒下方和其上方;
非磁性间隔层,其设置在所述底部ima-MTJ堆叠和所述顶部pma-MTJ堆叠中的所述两个FL之间。
4.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述MTJ-MTJ堆叠的所述FL与所述PMA-MTJ堆叠的所述FL之间的所述非磁性间隔层包含MgO或AlOx的隧穿势垒TMR层、GMR中的Cu夹层或Ta、Au、W、V、Mo、Ru的势垒层,Cr或Nb以截断两个FL之间的交换耦合,并且还能促进极化电子自旋输运。
5.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述pma-MTJ中的RL可为以下三种情况中的一个:
永久垂直磁向异性(PMA)磁层,其包括HCP(002)Co合金,L10合金,例如FePd、FePt或CoPt,或CO2/PD9或CO2/PT9的多层;
通过Ru夹层分离的两个垂直磁各向异性层组成的合成反铁磁体(SAF)叠层;
由反铁磁体(AFM)层沿垂直固定的SAF叠层。
6.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述ima-MTJ中的RL为AFM沿面内方向固定的SAF叠层,其由Ru夹层分离的两个面内磁向异性层组成。
7.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述ima-MTJ中的所述FL还可为SAF FL结构,所述SAF FL结构包括由Ru层分离的两个磁性自由层,以改善所述自由层稳定性且利于存储器小型化–可突破单层FL的ima-MTJ中60nm的存储器单元尺寸的极限,且有可能用于制作亚10纳米的存储器。
8.根据权利要求7所述的H-STT-MRAM器件,其中具有SAF自由层结构的所述ima-MTJ也可用于制作面内STT-MRAM器件以突破单层F的面内STT-MRAM中60nm存储器单元尺寸的极限,并进一步将所述存储器单元大小减至亚10nm以用于高面密度存储。
9.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,且其中所述pma-MTJ中的所述FL及垂直SAF结构中的所述两个磁性层、平面内SAF RL及SAF自由层结构为CoFe、CoFeB及CoFe合金磁性材料。
10.根据权利要求1所述的H-STT-MRAM器件,其中所述ima-MTJ中的所述AFM面内固定层和所述pma-MTJ中的所述AFM垂直固定层为两种不同的AFM材料,包括IrMn、NiMn、FeMn、PtMn或IrMn/FeMn多层,以便具有不同的退火块温度。
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