[发明专利]一种电子通信设备的测试方法和装置

说明书

本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置，涉及通信设备测试技术领域，既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便；该装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质；渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的；该装置包括单锥结构和双锥结构两种形式。本发明提供的技术方案适用于电子通信设备OTA测试和电磁兼容测试的过程中。

【技术领域】

本发明涉及通信设备测试技术领域，尤其涉及一种电子通信设备的测试方法和装置。

【背景技术】

随着电子通信设备的发展，从300kHz的中波通信频段，到6GHz以下的移动通信频段，再到毫米波5G/B5G通信系统、卫星通信系统、无线物联网与工业互联网等无线通信系统的发展，无线通信终端设备使用的频段越来越宽。传统上对于无线通信设备收发信机的测量主要有两种方式：(1)传导方式，即使用线缆或者波导连接测试仪器和通信设备射频接口，但是随着有源集成一体化天线的发展，通信设备本身很难有单独的射频接口可以引出，这种测试方法变得难于适用，而且集成天线本身也需要测试；(2)OTA方式，即空口辐射方式，这种方式目前主要依赖电波暗室和天线系统，缺点是电波暗室占地面积大、投资成本高；而测试用天线一般都是分频段器件，单一天线很难覆盖300kHz到毫米波的超宽频率范围，需要多个天线分频段组合使用，所以在测试多频或者是宽带移动通信设备时，需要更换天线，操作繁琐成本高。此外，传统上射频测试和电磁兼容测试是分开进行的，占用设备多，操作复杂繁琐。

因此，有必要研究一种电子通信设备的测试方法和装置来应对现有技术的不足，以解决或减轻上述一个或多个问题。

【发明内容】

有鉴于此，本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置，既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便。

一方面，本发明提供一种电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质；所述渐变同轴结构的一端作为馈电端，另一端设有电磁波吸收结构。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述电磁吸收结构为负载。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述渐变同轴结构为单锥结构；所述单锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均为圆锥体形，且两者锥度不同；所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载，所述负载位于所述绝缘空间内部；所述圆锥体的顶点作为馈电端。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述渐变同轴结构为双锥结构；所述双锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体；所述双锥结构的一端作为馈电端，另一端设有用于吸收电磁波的负载。所述双锥结构的两个圆锥体的锥度可以是相同的也可以是不同的。同一侧的内导体和外导体的锥度是不同的。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。直线衔接具体为两个底面之间的连接段为横截面固定的圆柱体形。曲线衔接具体为两个底面之间的连接段为中间突起的鼓状。不管是直接衔接、直线衔接还是曲线衔接，内导体和外导体的衔接段同样为同轴设置。