[发明专利]一种电子通信设备的测试方法和装置

权利要求书

1.一种电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质。

2.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的。

3.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述渐变同轴结构为单锥结构；所述单锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均为圆锥体形，且两者锥度不同；所述内导体的圆锥底面处设有用于吸收电磁波的负载，所述负载位于所述绝缘空间内部。

4.根据权利要求1所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，所述渐变同轴结构为双锥结构；所述双锥结构具体为：所述外导体和所述内导体均包括两个底面相互衔接的圆锥体；所述双锥结构的一端作为馈电端，另一端设有用于吸收电磁波的负载。

5.根据权利要求4所述的电子通信设备的测试装置，其特征在于，两个圆锥体的底面衔接方式为直接衔接、直线衔接或者曲线衔接。

6.一种电子通信设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法采用如权利要求1-5任一所述的测试装置对电子通信设备进行测试；测试时将待测电子通信设备置于内导体和外导体之间的绝缘空间内，测试装置的馈电端与外部测试设备连接。

7.根据权利要求6所述的电子通信设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法的步骤包括：

S1、确定从所述测试装置的馈电端到被测端的路径损耗；

S2、根据对待测电子通信设备的测试要求以及路径损耗，确定外部测试设备的输入参数；

S3、根据确定的输入参数进行测试。

8.一种电子通信设备的OTA测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如权利要求1-5任一所述的测试装置、与所述测试装置馈电端连接的无线通信综合测试仪以及用于放置被测电子通信设备的转台；所述转台设于所述测试装置的内部，用于携带被测电子通信设备实现其天线指向角度的变化。

9.根据权利要求8所述的电子通信设备的OTA测试系统，其特征在于，所述转台为双轴转台，包括第一旋转轴、第二旋转轴和用于固定被测电子通信设备的夹持部，所述第一旋转轴与所述第二旋转轴相互垂直设置并与所述夹持部连接，所述第一旋转轴和所述第二旋转轴的旋转动作叠加实现天线指向角全角度遍历。

10.一种电子通信设备的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括如权利要求1-5任一所述的测试装置以及与所述测试装置馈电端连接的辐射骚扰测试系统或辐射抗扰测试系统。