[发明专利]物体形状评估方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种物体形状评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测物体的二值化灰度图像；

基于调节曲线与所述待测物体的位置关系计算所述二值化灰度图像的评估函数值，所述调节曲线用于模拟所述待测物体的轮廓；

基于所述调节曲线的调节步长调节所述调节曲线上的计算点，并在调节所述调节曲线上的计算点后再次执行所述基于调节曲线与所述待测物体的位置关系计算所述二值化灰度图像的评估函数值，直至所述评估函数值小于预设评估阈值，所述调节步长为所述调节曲线的重心的移动距离；

当所述评估函数值小于所述预设评估阈值时，基于圆形评估公式得到所述待测物体的形状的评估结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体的二值化灰度图像，包括：

获取所述待测物体的图片；

将所述图片转换为灰度图像；

对所述灰度图像进行二值化处理得到所述二值化灰度图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述灰度图像进行二值化处理得到所述二值化灰度图像包括：

将所述灰度图像中所述待测物体内部对应的像素值设置为第一预设值；

将所述灰度图像中所述待测物体外部对应的像素值设置为第二预设值；

基于腐蚀算法去除二值化后的灰度图像的噪音得到所述二值化灰度图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于调节曲线与所述待测物体的位置关系计算所述灰度图像的评估函数值，包括：

基于评估函数计算公式计算所述二值化灰度图像的评估函数值；

所述评估函数计算公式包括：

E(C)＝E_in(C)+E_out(C)＝∫|I(x，y)-c₀|²dxdy+∫|I(x，y)-cb/2dxdy；

其中，E(C)表示所述评估函数值，E_in(C)表示所述调节曲线内的内部评估函数值，E_out(C)表示所述调节曲线内的外部的评估函数值，I(x，y)表示所述二值化灰度图像内任意一个像素点的灰度值，c₀表示所述调节曲线内的所有像素点的平均灰度值，c_b表示所述调节曲线外的所有像素点的平均灰度值。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述调节曲线的调节步长调节所述调节曲线上的所述计算点包括：

设置所述调节曲线的计算点；

当所述计算点的像素值为所述第一预设值时，将所述调节曲线上的所述计算点背离所述重心的方向移动所述调节步长；

当所述计算点的像素值为所述第二预设值时，将所述调节曲线上的所述计算点靠近所述重心的方向移动所述调节步长。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述设置所述调节曲线的计算点，包括：

将所述调节曲线设置为圆，各个所述计算点之间的距离间隔相等。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于圆形评估公式得到所述物体形状的评估结果，包括：

基于圆形评估公式计算所述物体形状的评估结果；

所述圆形评估公式包括：

其中，f表示所述评估结果，n表示所述计算点的数目，d_i表示第i个计算点到所述调节曲线的重心的距离，μ表示所述计算点到所述调节曲线的重心的距离的平均值。