[发明专利]一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统

说明书

本发明提供了一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，该系统包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。运用该系统可以自动测量射频芯片模组在某一频率下稳定发射射频信号的起始时间，本发明提供的自动校准该时间的方法，可以找出射频信号稳定发射的时间起始点，从而保证射频信号指标稳定的前提下用最少的时间延时，提供最佳的工厂效率。

技术领域

本公开涉及电子通讯技术领域，尤其涉及一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统。

背景技术

具有射频功能的模组在出厂时需要对其进行射频参数校准，射频校准的校准值会写入芯片的指定位置，用于芯片正式工作中以理想的射频指标工作。例如WiFi、BLE、ZIGBEE、GNSS、LORA、NB-IOT等芯片的射频参数。

目前，芯片射频信号延时测量参数的校准通常是上位机校准工具设定固定值，或者是根据芯片厂商的不同、批次的不同及信道频率的不同进行手动校准。因此现有的参数校准方法存在导致工厂效率低或校准失败的问题。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例提供一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，改进现有不合理的延时参数设定导致的工厂效率低或者校准失败的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法，包括首次测量和循环测量；所述首次测量包括如下步骤：

S01、设定参数的初始值；

所述初始值包括首次延时时间，指标测量间隔时间T2，均值误差阈值ΔE，方差基准倍数k，同一延时时间的测量次数N；

S02、控制模块控制模组发送射频信号，并在延时时刻之后控制测量仪器测量该时刻的射频信号，同时获取该时刻的测量值；

S03、控制模块控制模组停止发送射频信号，并在间隔T2时间后进行下一次测量，重复测量N次，得到N次的测量值；

S04、由N次的测量值得到首次测量的指标均值、首次测量的指标方差；

所述循环测量包括如下步骤：

S11、重复所述首次测量的步骤，得到第二次测量的指标均值、第二次测量的指标方差，其中，；

S12、将首次测量中得到的指标均值、指标方差分别与S11中第二次测量的指标均值、指标方差比较，计算均值误差百分比，得到ΔE₁，

其中，；

S13、若ΔE₁ΔE或D₁kD₀，则误差超限，下一次延时时间t(next+)由公式（1）确定：

（1）

若且D1≤kD₀，则误差未超限，下一次延时时间t(next-)由公式（2）确定：

（2）

S14、获取目标延时时间t_stop：

若满足：，则得到

若否，则继续进行循环测量，至获取目标延时时间t_stop。

进一步地，所述首次测量中参数的初始值T1、T2、ΔE、k、N均为经验值。

在一种优选的实施方式中，所述T1的值为100-1000ms。