[发明专利]一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统

权利要求书

1.一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法，其特征在于，包括首次测量和循环测量；所述首次测量包括如下步骤：

S01、设定参数的初始值；

所述初始值包括首次延时时间，指标测量间隔时间T2，均值误差阈值ΔE，方差基准倍数k，同一延时时间的测量次数N；

S02、控制模块控制模组发送射频信号，并在延时时刻之后控制测量仪器测量该时刻的射频信号，同时获取该时刻的测量值；

S03、控制模块控制模组停止发送射频信号，并在间隔T2时间后进行下一次测量，重复测量N次，得到N次的测量值；

S04、由N次的测量值得到首次测量的指标均值E₀、首次测量的指标方差D₀；

所述循环测量包括如下步骤：

S11、重复所述首次测量的步骤，得到第二次测量的指标均值E₁、第二次测量的指标方差D₁，其中，；

S12、将首次测量中得到的指标均值E₀、指标方差D₀分别与S11中第二次测量的指标均值E₁、指标方差D₁比较，计算均值误差百分比，得到ΔE₁；

其中，；

S13、若ΔE₁ΔE或D₁kD₀，则误差超限，下一次延时时间t(next+)由公式（1）确定：

（1）

若ΔE₁ΔE且D1≤kD₀，则误差未超限，下一次延时时间t(next-)由公式（2）确定：

（2）

S14、获取目标延时时间t_stop：

若满足：，则得到；

若否，则继续进行循环测量，至获取目标延时时间t_stop；

其中，t_current为延时时间，T1为首次测量延时时间，所述首次测量中参数的初始值T1、T2、ΔE、k、N均为经验值。

2.根据权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于，所述T1的值为100-1000ms。

3.根据权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于，所述T2的值为0.5s。

4.根据权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于，所述均值误差阈值ΔE为1-10%。

5.根据权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于，所述方差基准倍数k的范围为1-2。

6.一种如权利要求1至5任一项所述的芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法的自动校准系统，其特征在于，包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。

7.根据权利要求6所述的自动校准系统，其特征在于，所述控制模块包括：芯片控制模块、时间控制模块、仪器控制与RF获取模块；

所述芯片控制模块用于控制模组中芯片发射和/或停止发射指定频率的射频信号；

所述时间控制模块用于获取所述芯片控制模块向模组发送控制指令的时间，并在经过延时时间t_current后，控制所述仪器控制与RF获取模块向所述测量仪器发送测量控制指令，所述时间控制模块还用于获取下一次延时时间t_next；

所述仪器控制与RF获取模块用于控制测量仪器测量射频信号，并读取测量值。

8.根据权利要求7所述的自动校准系统，其特征在于，所述控制模块还包括指标统计模块，所述指标统计模块用于从所述仪器控制与RF获取模块中获取测量值后计算多次测量的平均值、方差。