[发明专利]一种高密度互连芯片结构在审
| 申请号: | 202010943436.X | 申请日: | 2020-09-09 |
| 公开(公告)号: | CN112201647A | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
| 发明(设计)人: | 周云 | 申请(专利权)人: | 苏州通富超威半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L25/07 | 分类号: | H01L25/07;H01L23/498;H01L23/538 |
| 代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
| 地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高密度 互连 芯片 结构 | ||
1.一种高密度互连芯片结构,其特征在于,包括:
芯片组件,所述芯片组件包括互连的功能芯片和连接芯片;及
基板,所述功能芯片连接至所述基板的第一表面,所述第一表面设有凹槽,所述凹槽位于所述功能芯片在所述基板的投影区,所述凹槽容纳填充胶,所述填充胶的粘度随着温度升高而增大,所述连接芯片设置于所述凹槽内。
2.根据权利要求1所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述凹槽的深度大于所述连接芯片的厚度。
3.根据权利要求1所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,还包括第一焊点,所述第一焊点用于连接所述功能芯片与所述基板,所述第一焊点设置于所述凹槽外的四周。
4.根据权利要求3所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述第一焊点的熔融温度高于所述填充胶的凝固温度。
5.根据权利要求3所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述第一焊点呈阵列布置。
6.根据权利要求1所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,还包括第二焊点,所述第二焊带用于连接所述功能芯片与所述连接芯片,所述第二焊点设置于所述功能芯片或所述连接芯片。
7.根据权利要求6所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述第二焊点的熔融温度高于所述填充胶的凝固温度。
8.根据权利要求6所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述第二焊点呈阵列布置。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的高密度互连芯片结构,其特征在于,所述基板是印制电路板,由陶瓷或层压板制成的多层布线板。
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