[发明专利]一种用于芯片生产的干燥设备在审
| 申请号: | 202010915115.9 | 申请日: | 2020-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN112233997A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
| 发明(设计)人: | 王兴杰 | 申请(专利权)人: | 王兴杰 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 029200 内蒙古*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 芯片 生产 干燥设备 | ||
本发明涉及一种用于芯片生产的干燥设备,包括主体、放置台和加热棒,还包括除水机构和辅助机构,除水机构包括圆环、除水板、两个驱动组件和两个限位杆,驱动组件包括电机、转轴、第一轴承和齿轮,辅助机构包括固定盒、两个充气组件和若干吹气管,充气组件包括气筒、密封板、进气管、出气管、传动单元、偏心轮、固定块、摩擦块、第二轴承、动力轴和两个弹簧,该用于芯片生产的干燥设备通过除水机构,使得除水板可以将晶片上方残留的水珠刮落,通过加热棒的烘干和除水板的除水两者不同形式实现干燥的功能,从而可以缩短烘干时间,提高工作效率,通过辅助机构,使得晶片腾空,减小了晶片与凹口内壁接触的面积,从而使得晶片可以被充分的烘干。
技术领域
本发明涉及芯片领域,特别涉及一种用于芯片生产的干燥设备。
背景技术
干燥设备又称干燥器和干燥机。用于进行干燥操作的设备,通过加热使物料中的湿分汽化逸出。
现有的干燥设备通常依靠加热棒对晶片进行干燥工作,加热方式单一,致使晶片烘干时间较长,降低了干燥的工作效率,不仅如此,现有的干燥设备在干燥晶片时,晶片通常抵靠在工作台上,致使晶片有一面是与工作台抵靠的,从而致使晶片与工作台的抵靠处无法被充分的烘干,从而降低了烘干质量,降低了现有的干燥设备的可靠性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:为了克服现有技术的不足,提供一种用于芯片生产的干燥设备。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种用于芯片生产的干燥设备,包括主体、放置台和加热棒,所述加热棒固定在主体的上方,所述放置台固定在主体的内部,所述放置台的上方设有凹口,所述主体的内部设有PLC,还包括除水机构和辅助机构,所述除水机构设置在放置台的上方,所述辅助机构设置在主体内的底部,所述除水机构与辅助机构连接;
所述除水机构包括圆环、除水板、两个驱动组件和两个限位杆,所述放置台的外周设有环形槽,两个限位杆关于圆环的轴线对称设置,所述限位杆的一端设置在环形槽的内部,所述限位杆的一端与环形槽匹配,所述限位杆的一端与环形槽滑动连接,所述限位杆的另一端与圆环固定连接,所述圆环的外周周向均匀固定有凸齿,两个驱动组件关于圆环的轴线对称设置,所述驱动组件与凸齿连接,所述驱动组件设置在主体内的顶部,所述放置台的下方均匀设有排水孔;
所述驱动组件包括电机、转轴、第一轴承和齿轮,所述电机固定在主体内的顶部,所述第一轴承固定在主体内的底部,所述电机与转轴的一端传动连接,所述转轴的另一端与第一轴承的内圈固定连接,所述齿轮固定在转轴上,所述齿轮与凸齿啮合,所述转轴与辅助机构连接;
所述辅助机构包括固定盒、两个充气组件和若干吹气管,所述固定盒固定在主体内的底部,所述吹气管周向均匀固定在固定盒的上方,所述固定盒通过吹气管与凹口的内部连通,两个充气组件分别设置在固定盒的两侧,所述充气组件与转轴一一对应,所述充气组件与转轴连接;
所述充气组件包括气筒、密封板、进气管、出气管、传动单元、偏心轮、固定块、摩擦块、第二轴承、动力轴和两个弹簧,所述气筒固定在固定盒上,所述气筒通过出气管与固定盒的内部连通,所述气筒的上方与进气管连通,所述进气管和出气管内均设有单向阀,所述单向阀与PLC电连接,所述密封板设置在气筒的内部,所述密封板与气筒的内壁密封连接,所述气筒的靠近转轴的一侧设有开口,所述偏心轮固定在转轴上,所述偏心轮穿过开口与密封板抵靠,两个弹簧分别设置在密封板的靠近开口的一侧的两端,所述弹簧的两端分别与气筒的靠近开口的一侧的内壁和密封板连接,所述第二轴承固定在主体内的底部,所述气筒的下方设有小孔,所述动力轴的一端与第二轴承的内圈固定连接,所述动力轴的另一端穿过小孔与摩擦块固定连接,所述固定块固定在气筒的内壁上,所述固定块与摩擦块抵靠,所述转轴通过传动单元与动力轴连接。
作为优选,为了传递动力,所述传动单元包括皮带和两个转轮,两个转轮分别与转轴和动力轴固定连接,两个转轮通过皮带连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





