[发明专利]一种集成电路封装芯片的分类装置在审

专利信息
申请号: 202010909928.7 申请日: 2020-09-02
公开(公告)号: CN112246690A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 肖传兴;刘权;李广 申请(专利权)人: 江苏盐芯微电子有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38;H01L21/67
代理公司: 盐城众创睿智知识产权代理事务所(普通合伙) 32470 代理人: 韩燕
地址: 224000 江苏省盐城市高新区智能*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 封装 芯片 分类 装置
【权利要求书】:

1.一种集成电路封装芯片的分类装置,包括收集口(1),其特征在于:所述收集口(1)的末端安装有性能检测装置(2),所述性能检测装置(2)的内部安装有检测传送带(9),所述检测传送带(9)的表面安装有弹性电磁铁(32),所述弹性电磁铁(32)的一侧电连接有性能检测电脑(3)。

2.根据权利要求1的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述检测传送带(9)的中间安装有翻身传动轮(10)。

3.根据权利要求1的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述检测传送带(9)的一侧安装有遗漏回收管(14),所述遗漏回收管(14)的前端安装有气动发射阀(15),所述气动发射阀(15)的另一侧连接有回收软管(16),所述回收软管(16)的另一侧与收集口(1)相连。

4.根据权利要求1的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述性能检测装置(2)的底部开设有报废通道(11),所述报废通道(11)的底部安装有芯片报废收集箱(4),所述性能检测装置(2)的底部开设有返修通道(12),所述返修通道(12)的底部安装有芯片返修收集箱(5),所述性能检测装置(2)的末端开设有蜡封通道(13)。

5.根据权利要求2的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述蜡封通道(13)的末端连接有芯片蜡封装置(6),所述芯片蜡封装置(6)的内部安装有蜡封传送平台(17),所述蜡封传送平台(17)的前半部为斜面,所述蜡封传送平台(17)的后半部为平面,所述蜡封传送平台(17)的末端设置有阻块(18),所述蜡封传送平台(17)后半部的内部安装有压缩空气喷头(19),所述蜡封传送平台(17)的上方安装有蜡封传送带(21),所述蜡封传送带(21)的表面安装有弹性电磁铁(32)。

6.根据权利要求2的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述蜡封传送带(21)的下方安装有融蜡箱(20)。

7.根据权利要求2的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述融蜡箱(20)的一侧安装有风干装置。

8.根据权利要求2的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述蜡封传送带(21)的下方安装有芯片分类装置(7),所述芯片分类装置(7)的内部安装有分类传送带(22)。

9.根据权利要求2的一种集成电路封装芯片的分类装置,其特征在于:所述分类传送带(22)的上方依次安装有收集传送带(24),所述收集传送带(24)的表面安装有弹性电磁铁(32),所述收集传送带(24)的一侧安装有引脚感应组(23),所述收集传送带(24)的下方设置有分类储存箱(25)。,所述引脚感应组(23)包括导线、计数模块、计时模块和控制模块。

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