[发明专利]荧光图像分析装置

说明书

本发明涉及荧光图像分析装置。该荧光图像分析装置存储基准荧光样品图像和对象荧光样品图像。基准荧光样品图像是通过用线性偏振光照射面内荧光强度的关系已知的基准荧光样品并捕获来自基准荧光样品的荧光的第一预定偏振分量而获得的图像。对象荧光样品图像是通过用线性偏振光照射对象荧光样品并捕获来自对象荧光样品的荧光的第二预定偏振分量而获得的图像。该荧光图像分析装置被配置为基于基准荧光样品图像来确定用于校正在捕获的图像的像素之间测量的光强度中的不均匀性的校正系数，并且基于校正系数来校正对象荧光样品图像的像素的光强度。

技术领域

本发明涉及荧光图像分析装置。

背景技术

荧光图像分析被广泛用于评估各种分子的各种状态。通过用偏振光作为激发光照射荧光标记的样品并从荧光中提取特定的偏振分量来获得荧光图像。例如，荧光去偏振方法根据与激发光的偏振方向平行和垂直的荧光的偏振分量来计算荧光偏振值，从而对样品进行分析。荧光偏振值(荧光各向异性)教导了关于分子的信息，例如，大小、形状、浓度和粘度。

发明内容

用于获取偏振荧光的图像的荧光偏振测量装置可以具有偏振依赖性。换言之，荧光偏振测量装置可以对不同方向上的偏振表现出不同的敏感性。为了校正该依赖性，计算G因子以在荧光偏振值的计算中用作校正系数。G因子被表示为荧光的与线性偏振入射光的偏振方向垂直的偏振分量相对于荧光的与线性偏振入射光的偏振方向平行的偏振分量之比。

但是，荧光偏振测量装置具有改变荧光图像的多种因素；仅使用G因子难以准确地测量荧光偏振。

本发明的一方面是一种荧光图像分析装置，其包括一个或多个处理器和一个或多个存储装置。所述一个或多个存储装置存储基准荧光样品图像和对象荧光样品图像。基准荧光样品图像是通过用线性偏振光照射面内荧光强度的关系已知的基准荧光样品并捕获来自基准荧光样品的荧光的第一预定偏振分量而获得的图像。对象荧光样品图像是通过用线性偏振光照射对象荧光样品并捕获来自对象荧光样品的荧光的第二预定偏振分量而获得的图像。所述一个或多个处理器被配置为基于基准荧光样品图像来确定用于校正在捕获图像的像素之间测量的光强度中的不均匀性的校正系数，并基于校正系数校正对象荧光样品图像的像素的光强度。

本发明的一个方面实现了荧光偏振的更准确的测量。

应当理解的是，前面的概述和下面的详细描述都是示例性和说明性的，并不限制本发明。

附图说明

图1示意性地示出了实施方式1和实施方式2中的荧光偏振测量系统中包括的荧光偏振测量装置的结构示例；

图2示意性地示出了荧光偏振测量系统的逻辑结构的示例；

图3示意性地示出了荧光偏振测量控制器的结构示例；

图4是荧光偏振测量控制器的操作的示例的流程图；

图5是存储基准荧光样品图像的步骤的细节的示例的流程图；

图6示意性地示出了根据装置控制程序的用于液晶单元的驱动电压与透射通过液晶单元的光的强度之间的关系；

图7是存储对象荧光样品图像的步骤的细节的示例的流程图；

图8是分析对象荧光样品图像的步骤的细节的示例的流程图；

图9示出了ROI的位置；

图10是(当液晶单元接通时)从对象荧光样品测得的未校正的光强度的图表；

图11是(当液晶单元接通时)从基准荧光样品测得的光强度的图表；

图12是基于从基准荧光样品测得的光强度校正了从对象荧光样品测得的光强度之后的结果的图表；

图13是(当液晶单元关断时)从对象荧光样品测得的未校正的光强度的图表；